Aging studies of atomic layer epitaxy ZnS:Mn alternating-current thin-film electroluminescent devices

Result code in IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216305%3A26220%2F05%3APU48566" target="_blank" >RIV/00216305:26220/05:PU48566 - isvavai.cz</a>
Result on the web
—
DOI - Digital Object Identifier
—

Result language
angličtina
Original language name
Aging studies of atomic layer epitaxy ZnS:Mn alternating-current thin-film electroluminescent devices
Original language description
A study of the aging behavior of atomic layer epitaxy (ALE) ZnS:Mn alternating-current thin-film electroluminescent (ACTFEL) devices is undertaken by monitoring the internal charge-phosphor field (Q-Fp) and capacitance-voltage (C-V) characteristics as afunction of aging time. The electrical properties are asymmetrical with respect to the applied voltage pulse polarity; the aging characteristics of such devices are also asymmetric.
Czech name
Proces stárnutí tenkovrstvé struktury ZnS:Mn získané pomocí epitaxe atomových vrstvev pro EL panel
Czech description
Článek přináší studium procesu stárnutí ZnS:Mn struktury, získané pomocí atomární epitace, které se využívá pro EL panely. Ke studiu slouží monitorování závislosti vnitřního náboje ve vrtvě luminoforu(Q-Fp) a C-V charakteristika jako funkce akcelrované stárnutí při různých teplotách. Elektrické vlastnosti a tím i proces stárnutí luminoforu jsou asymetrické s ohledem na polaritu Al kontaktu.

Publication year
2005
Confidentiality
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Article name in the collection
Proceedings of the 11th Conference STUDENT EEICT 2005
ISBN
80-214-2889-9
ISSN
—
e-ISSN
—
Number of pages
5
Pages from-to
188-192
Publisher name
FEKT VUT
Place of publication
Brno
Event location
Brno
Event date
Apr 28, 2005
Type of event by nationality
CST - Celostátní akce
UT code for WoS article
—

Similar results(10)