Aging study of evaporated ZnS:Mn Alternating-Current Thin-Film Electroluminescent devices

Result code in IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216305%3A26220%2F05%3APU48565" target="_blank" >RIV/00216305:26220/05:PU48565 - isvavai.cz</a>
Result on the web
—
DOI - Digital Object Identifier
—

Result language
angličtina
Original language name
Aging study of evaporated ZnS:Mn Alternating-Current Thin-Film Electroluminescent devices
Original language description
A study of the aging characteristics of evaporated ZnS:Mn alternating-current thin-film electroluminescent (ACTFEL) devices is undertaken by monitoring the capacitance-voltage (C-V) characteristics at various temperatures as a function of aging time. Short-term ACTFEL aging is characterized by a rigid shift in the C-V curve to higher turn-on voltage with aging time. Additionally, the insulator and phosphor capacitances are found to be independent of aging time, the internal phosphor threshold voltage inncreases slightly with aging time, and the conduction and polarization charges are observed to decrease with aging time.
Czech name
Studium stránutí na napařených tenkovrstvých strukturách ZnS:Mn elektroluminiscenčního panelu
Czech description
Článek přináší studim procesu stárnutí napařených tenkovrstvých struktur ZnS:Mn pro elektroluminiscenční panel. K tomu se využívá monitorování závislosti C-V při různých teplotách v průběhu několika hodin po zahoření.

Publication year
2005
Confidentiality
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Article name in the collection
Proceedings of the 11th confernece STUDENT EEICT 2005
ISBN
80-214-2889-9
ISSN
—
e-ISSN
—
Number of pages
5
Pages from-to
193-197
Publisher name
FEKT VUT
Place of publication
Brno
Event location
Brno
Event date
Apr 28, 2005
Type of event by nationality
CST - Celostátní akce
UT code for WoS article
—

Similar results(10)