Control of Dynamics of SPM Probes for Non-destructive defectoscopy
The result's identifiers
Result code in IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216305%3A26220%2F05%3APU48731" target="_blank" >RIV/00216305:26220/05:PU48731 - isvavai.cz</a>
Result on the web
—
DOI - Digital Object Identifier
—
Alternative languages
Result language
angličtina
Original language name
Control of Dynamics of SPM Probes for Non-destructive defectoscopy
Original language description
Paper describes a control of dynamics of Scanning Probe Microscopy (SPM) and especially STM microscope probes, which are going to be used for non-destructive defectoscopy on surface and subsurface layers of material with nanometer resolution. STM microscope is based on an electron tunnel effect. The tunnel effect proceeds between a probe and a tested sample, where a probe disturbs so called near-field of the material. A principle of STM microscope allows get an information only from material spot whichis just under the probe. Therefore have to be used a manipulator to move with the sample under probe to scan whole surface of the material. The piezonanomanipulator is necessary to this movement, this instrument provide movement under the probe with high accuracy of few nanometers. The nanomanipulator can move itself in 3 axis x,y,z, a movement is realized by the help of piezo-crystals, these are feeding by the voltage from 2 to +12 V. Paper is focused on the quality of used nan
Czech name
Řízení dynamiky sond SPM v nedestruktivní defektoskopii
Czech description
V článku je popsáno řízení dynamiky sondy pro SPM mikroskopy, speciálně pro STM, které se používají pro nedestruktivní testování nanostruktury materiálů. Dále je zde popsán tunelový jev, jako jeden ze základů kvantové mechaniky. Článek se také zabývá nanomanipulátorem pro pohyb prvku pod sondou přístroje. Popisuje jeho základní vlastnosti a zkoumá použitelnost tohoto přístroje pro metody STM.
Classification
Type
D - Article in proceedings
CEP classification
JA - Electronics and optoelectronics
OECD FORD branch
—
Result continuities
Project
—
Continuities
Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)
Others
Publication year
2005
Confidentiality
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů
Data specific for result type
Article name in the collection
Proceedings of XXXth Seminary XXX ASR'05:Instruments and Control '05
ISBN
80-248-0774-2
ISSN
—
e-ISSN
—
Number of pages
8
Pages from-to
30-37
Publisher name
VŠB TU Ostrava
Place of publication
Ostrava
Event location
Ostrava
Event date
Apr 30, 2004
Type of event by nationality
CST - Celostátní akce
UT code for WoS article
—