NEAR-FIELD SCANNING OPTICAL MICROSCOPY AND SCANNING TUNNELLING MICROSCOPY IN DEFECTOSCOPY
The result's identifiers
Result code in IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216305%3A26220%2F05%3APU48732" target="_blank" >RIV/00216305:26220/05:PU48732 - isvavai.cz</a>
Result on the web
—
DOI - Digital Object Identifier
—
Alternative languages
Result language
angličtina
Original language name
NEAR-FIELD SCANNING OPTICAL MICROSCOPY AND SCANNING TUNNELLING MICROSCOPY IN DEFECTOSCOPY
Original language description
This paper is dealing with a conjuction of STM and SNOM methods in defectoscopy. First part is focused on common description of STM method, the tunnel effect and two modes of TS 3130 which is instrument for STM made by Tescan are described. Next part gives details about SNOM method and its advantages and disadvantages in the local nondestructive measurement.
Czech name
Metoda SNOM a STM v defektoskopii
Czech description
Článek se zabývá spojením metod STM a SNOM v defektoskopii. Prví část je zaměřena na popis jednotlivých metod a tunelového efektu. Dále je článek zaměřen na přístroj TS3130 a v poslední části se článek zabývá výhodami a nevýhodami jednotlivých metod.
Classification
Type
D - Article in proceedings
CEP classification
JA - Electronics and optoelectronics
OECD FORD branch
—
Result continuities
Project
—
Continuities
Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)
Others
Publication year
2005
Confidentiality
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů
Data specific for result type
Article name in the collection
Proceedings of the 11th conference student EEICT 2005 volume 2
ISBN
80-214-2889-9
ISSN
—
e-ISSN
—
Number of pages
5
Pages from-to
256-260
Publisher name
VUT Brno
Place of publication
Brno
Event location
Brno
Event date
Apr 28, 2005
Type of event by nationality
CST - Celostátní akce
UT code for WoS article
—