Application of new measurement method to integrated capacitor characterization

Result code in IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216305%3A26220%2F05%3APU52861" target="_blank" >RIV/00216305:26220/05:PU52861 - isvavai.cz</a>
Result on the web
—
DOI - Digital Object Identifier
—

Result language
angličtina
Original language name
Application of new measurement method to integrated capacitor characterization
Original language description
A new measurement method has been developed for non-linear integrated capacitor characterization. The paper deals with its application on a test-chip with some test structures of capacitors. The test chip serves for research into methods of nonlinear gate capacitance compensation.
Czech name
Aplikace nové metody měření pro charakterizaci integrovaných kondenzátorů
Czech description
Byla vyvinuta nová metoda pro charakterizaci nelineárních kondenzátorů. Příspěvek popisuje její aplikaci na testovacím čipu s několika testovacími strukturami s kondenzátory. Testovací čip slouží pro výzkum metod linearizace nelineární hradlové kapacity.

Project
<a href="/en/project/GD102%2F03%2FH105" target="_blank" >GD102/03/H105: Modern methods of electronic circuit analysis, design and applications</a><br>
Continuities
P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)

Publication year
2005
Confidentiality
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Article name in the collection
Moderní metody řešení, návrhu a aplikace elektronických obvodů
ISBN
80-214-3089-3
ISSN
—
e-ISSN
—
Number of pages
6
Pages from-to
65-70
Publisher name
Ing. Zdeněk Novotný, CSc., Ondráčkova 105, Brno
Place of publication
Brno
Event location
Brno
Event date
Oct 24, 2005
Type of event by nationality
CST - Celostátní akce
UT code for WoS article
—

Similar results(10)