Automated test system for testing analog and digital ICs

Result code in IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216305%3A26220%2F05%3APU54223" target="_blank" >RIV/00216305:26220/05:PU54223 - isvavai.cz</a>
Result on the web
—
DOI - Digital Object Identifier
—

Result language
angličtina
Original language name
Automated test system for testing analog and digital ICs
Original language description
System design and function used for integrated circuits and ASIC prototype testing is described in follow-up paper. Designing system with a universal switching array and modules supporting available circuit packages makes this system adaptive for testingfunctions and parameters of most designed circuits.
Czech name
Automatizované systémy pro testování elektronických obvodů
Czech description
V článku jsou popisovány požadavky na návrh automatického měřicího systému pro testování analogových a digitálních integrovaných obvodů, způsob realizace jeho jednotlivých částí, funkce a parametry realizovaného systému.

Publication year
2005
Confidentiality
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Article name in the collection
Intensive Training Programme in Electronic System Design
ISBN
80-214-3042-7
ISSN
—
e-ISSN
—
Number of pages
5
Pages from-to
132-136
Publisher name
Nakl. Novotný
Place of publication
Chania
Event location
Chania, Crete, Greece
Event date
Sep 21, 2005
Type of event by nationality
CST - Celostátní akce
UT code for WoS article
—

Similar results(10)