X - RAY MICROANALYSIS IN ESEM

Result code in IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216305%3A26220%2F06%3APU64539" target="_blank" >RIV/00216305:26220/06:PU64539 - isvavai.cz</a>
Result on the web
—
DOI - Digital Object Identifier
—

Result language
angličtina
Original language name
X - RAY MICROANALYSIS IN ESEM
Original language description
The X-ray microanalysis performed in ESEM requires to take into account presence of gas in the specimen chamber. The impact of electron scattering causes disadvantageous general increase of concentration limits of executed analysis by additional X-ray peaks contributed by the so called skirt. At X-ray analysis scattered skirt electrons interact with atoms of specimen and produce X-rays but we do not know which X-rays are produced by primary beam and which are produced by skirt electrons. Pressure variation method is described. This method enables extrapolation of X- ray spectral measurements at higher pressures to zero pressure.
Czech name
Rentgenová mikroanalýza v ESEM
Czech description
Pro rtg mikroanalýzu v ESEM je potřebné vzít v úvahu přítomnost plynu v komoře vzorku. Dopad elektronů rozptýlených do tzv. sukénky způsobuje nevýhodné zvýšení prováděných analýz a vznik dalších rtg píků. Při rtg analýze interagují elektrony rozptýlené do sukénky s atomy vzorku a vytvářejí rtg záření, ale není známo které záření vzniká vlivem primárního svazku a které vlivem elektronů sukénky. Je popsána metoda nazvaná pressure variation metod. Tato metoda umožňuje extrapolaci měření rtg spekter od nejvyšších tlaků do nulového tlaku.

Publication year
2006
Confidentiality
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Similar results(10)