All

What are you looking for?

All
Projects
Results
Organizations

Quick search

  • Projects supported by TA ČR
  • Excellent projects
  • Projects with the highest public support
  • Current projects

Smart search

  • That is how I find a specific +word
  • That is how I leave the -word out of the results
  • “That is how I can find the whole phrase”

Method of material analysis by means of a focused electron beam using characteristic X-rays and back-scattered electrons and the equipment to perform it

The result's identifiers

  • Result code in IS VaVaI

    <a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F41600240%3A_____%2F12%3A%230000004" target="_blank" >RIV/41600240:_____/12:#0000004 - isvavai.cz</a>

  • Result on the web

    <a href="http://isdv.upv.cz/portal/pls/portal/portlets.pts.det?xprim=1647014&lan=cs" target="_blank" >http://isdv.upv.cz/portal/pls/portal/portlets.pts.det?xprim=1647014&lan=cs</a>

  • DOI - Digital Object Identifier

Alternative languages

  • Result language

    čeština

  • Original language name

    Způsob analýzy materiálů fokusovaným elektronovým svazkem s využitím charakteristického rentgenového záření a zpětně odražených elektronů a zařízení k jeho provádění

  • Original language description

    Předkládaný vynález se týká způsobu a zařízení pro analýzu materiálů fokusovaným elektronovým svazkem s využitím charakteristického rentgenového záření a zpětně odražených elektronů.

  • Czech name

    Způsob analýzy materiálů fokusovaným elektronovým svazkem s využitím charakteristického rentgenového záření a zpětně odražených elektronů a zařízení k jeho provádění

  • Czech description

    Předkládaný vynález se týká způsobu a zařízení pro analýzu materiálů fokusovaným elektronovým svazkem s využitím charakteristického rentgenového záření a zpětně odražených elektronů.

Classification

  • Type

    P - Patent

  • CEP classification

    JA - Electronics and optoelectronics

  • OECD FORD branch

Result continuities

  • Project

    <a href="/en/project/VG20102015065" target="_blank" >VG20102015065: Introduction of Field Ion Microscopy technique (FIB) into Forensic Casework and Expert Practices of the Police of the Czech Republic for the Analysis in the field of Graphic, Physico - Chemical and Technical Examinations</a><br>

  • Continuities

    P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)

Others

  • Publication year

    2012

  • Confidentiality

    C - Předmět řešení projektu podléhá obchodnímu tajemství (§ 504 Občanského zákoníku), ale název projektu, cíle projektu a u ukončeného nebo zastaveného projektu zhodnocení výsledku řešení projektu (údaje P03, P04, P15, P19, P29, PN8) dodané do CEP, jsou upraveny tak, aby byly zveřejnitelné.

Data specific for result type

  • Patent/design ID

    303228

  • Publisher

    CZ001 -

  • Publisher name

    Industrial Property Office

  • Place of publication

    Prague

  • Publication country

    CZ - CZECH REPUBLIC

  • Date of acceptance

    Apr 25, 2012

  • Owner name

    TESCAN ORSAY HOLDING, a.s.

  • Method of use

    A - Výsledek využívá pouze poskytovatel

  • Usage type

    P - Využití výsledku jiným subjektem je v některých případech možné bez nabytí licence