Scanning near-field optical microscopy

Result code in IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216305%3A26220%2F07%3APU70090" target="_blank" >RIV/00216305:26220/07:PU70090 - isvavai.cz</a>

Result on the web

—

DOI - Digital Object Identifier

—

Result language

angličtina

Original language name

Scanning near-field optical microscopy

Original language description

Optical microscopy with local probe in the near field has several advantages against other microscopy types. Main advantages are: easy use, minimal preparation of sample and possibility to get some extra information about sample. There are two basic modes: reflection mode and transmission mode. For sample surface topography measuring fiber quartz system based on shear forces between the tip and sample is used. Topography of sample is important because it allows to keep the distance between the tip and the sample surface constant and this is necessary for increasing the signal to noise ratio. As a probe is being used a metal coated optical fiber taper. During the scanning it is possible to get some extra information. In the case of reflection mode microscope configuration it is local reflection of sample. This characteristic of sample allows specifying some defects of the structure.

Czech name

Rastrovací optický mikroskop s lokální sondou

Czech description

Rastrovací optický mikroskop s lokální sondou má oproti jiným technikám některé výhodné vlastnosti. Mezi hlavní výhody patří jednoduché použití, minimální příprava vzorku a možnost získat dodatečnou informaci o vzorku. Rozlišujeme dva základní typy reflexní a transmisní. K měření topografie je použit systém s ladící vidličkou založený na laterálních smykových silách mezi hrotem a vzorkem. Mikroskop pracuje v módu konstantního proudu, to znamená, že v každém okamžiku je vzdálenost mezi hrotem a povrchemvzorku konstantní. Jako sondy se používají zašpičatělá optická vlákna s kovovým opláštěním. Dodatečná informace během skenování může být v případě reflexního uspořádání mikroskopu lokální odrazivost vzorku. Takto získané informace umožňují blíže zkoumatvzorek.

Type

D - Article in proceedings

CEP classification

JA - Electronics and optoelectronics

OECD FORD branch

—

Project

<a href="/en/project/GA102%2F07%2F0113" target="_blank" >GA102/07/0113: Noise as Diagnostic Tool for Schottky and Could Electron Emission Cathodes</a><br>

Continuities

P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)<br>Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)

Publication year

2007

Confidentiality

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Article name in the collection

New Trends in Physics

ISBN

978-80-7355-078-3

ISSN

—

e-ISSN

—

Number of pages

4

Pages from-to

274-277

Publisher name

Ing. Zdeněk Novotný Csc.

Place of publication

Brno

Event location

Brno

Event date

Nov 15, 2007

Type of event by nationality

EUR - Evropská akce

UT code for WoS article

—