Local light to electric energy conversion measurement of silicon solar cells
The result's identifiers
Result code in IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216305%3A26220%2F08%3APU74268" target="_blank" >RIV/00216305:26220/08:PU74268 - isvavai.cz</a>
Result on the web
—
DOI - Digital Object Identifier
—
Alternative languages
Result language
angličtina
Original language name
Local light to electric energy conversion measurement of silicon solar cells
Original language description
The paper is focused on non-destructive detection of structural errors, and on local illumination to electric energy conversion measurement in the solar cell using a near-field optical scanning microscope (SNOM). The principal objective of this study isto find out a relationship between surface or structure errors and defects observed in electric characteristics of solar cell samples. The defects and local mechanical damage of Si solar cell can result in lower light to electric energy conversion efficiency. The influence of surface scratching on reverse I-V characteristics of single-crystal silicon solar cell is also presented. The topography measurement, local surface reflection and local light to electric energy conversion measurement in areas damaged by a scratch are also provided.
Czech name
Elektrická odezva na lokální optické buzení křemíkových solárních článků
Czech description
Článek je zaměřen na nedestruktivní detekci strukturních vad a na měření elektrické odezvy při lokáním osvětlování solárního článku s využitím optického skenovacího mikroskopu v blízkém poli. Cílem práce je ukázat souvislost mezi poškozením struktury a elektrickými charakteristikami vzorku. Defekty a lokální poškození článků může vést ke snížení účinnosti převodu optické na elektrickou energii. Je prezentován vliv škrábanců na povrchu článku na závěrnou voltampérovou charakteristiku. Dále jsou prezentovány výsledky topografického měření, měření lokální odrazivosti vzorku a lokální elektrické odezvy solárního článku na optické buzení.
Classification
Type
D - Article in proceedings
CEP classification
JA - Electronics and optoelectronics
OECD FORD branch
—
Result continuities
Project
<a href="/en/project/GA102%2F08%2F1474" target="_blank" >GA102/08/1474: Local optical and electronic characterisation of optoelectronic structures with nanometric resolution</a><br>
Continuities
Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)
Others
Publication year
2008
Confidentiality
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů
Data specific for result type
Article name in the collection
Reliability and Life-time Prediction, Conference Proceedings
ISBN
978-963-06-4915-5
ISSN
—
e-ISSN
—
Number of pages
4
Pages from-to
—
Publisher name
Zsolt Illyefalvi-Vitéz, Bálint Balogh
Place of publication
Hungary, Budapest
Event location
Budapest
Event date
May 7, 2008
Type of event by nationality
WRD - Celosvětová akce
UT code for WoS article
—