Microscale electric response of solar cells
The result's identifiers
Result code in IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216305%3A26220%2F08%3APU76327" target="_blank" >RIV/00216305:26220/08:PU76327 - isvavai.cz</a>
Result on the web
—
DOI - Digital Object Identifier
—
Alternative languages
Result language
čeština
Original language name
Elektrická odezva solárních článků v mikroskopickém měřítku
Original language description
Měření elektrické odezvy solárních článků při lokálním optickém buzení vzorku může být užitečný nástroj pro zkoumání či vyhledávání defektů solárních článků. Velkou výhodou tohoto měření je právě jeho lokálnost. Výsledkem měření je relativní mapa přeměnyoptického záření na elektrickou energii. Bylo ukázáno, že při měření lokální elektrické odezvy lze dosáhnout lepšího rozlišení, než je vlnová délka použitého excitačního záření. Současně se stanovením lokální elektrické odezvy lze provádět měření lokální odrazivosti povrchu při různých polarizacích excitačního záření. U konkrétního vzorku lze tedy měřit ve vybrané oblasti povrchu topografii, lokální odrazivost a lokální elektrickou odezvu současně. Protože všechny tři měřené obrazy pochází z konkrétního, stejného místa na povrchu článku, lze je dát do přímé souvislosti. To nám umožňuje určit místa na vzorku, kde je přem
Czech name
Elektrická odezva solárních článků v mikroskopickém měřítku
Czech description
Měření elektrické odezvy solárních článků při lokálním optickém buzení vzorku může být užitečný nástroj pro zkoumání či vyhledávání defektů solárních článků. Velkou výhodou tohoto měření je právě jeho lokálnost. Výsledkem měření je relativní mapa přeměnyoptického záření na elektrickou energii. Bylo ukázáno, že při měření lokální elektrické odezvy lze dosáhnout lepšího rozlišení, než je vlnová délka použitého excitačního záření. Současně se stanovením lokální elektrické odezvy lze provádět měření lokální odrazivosti povrchu při různých polarizacích excitačního záření. U konkrétního vzorku lze tedy měřit ve vybrané oblasti povrchu topografii, lokální odrazivost a lokální elektrickou odezvu současně. Protože všechny tři měřené obrazy pochází z konkrétního, stejného místa na povrchu článku, lze je dát do přímé souvislosti. To nám umožňuje určit místa na vzorku, kde je přem
Classification
Type
D - Article in proceedings
CEP classification
JA - Electronics and optoelectronics
OECD FORD branch
—
Result continuities
Project
<a href="/en/project/GA102%2F06%2F1551" target="_blank" >GA102/06/1551: Diagnostics of PN junction electronic devices by means of microplasma noise evaluation</a><br>
Continuities
P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)
Others
Publication year
2008
Confidentiality
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů
Data specific for result type
Article name in the collection
Sborník příspěvků ze 3. České fotovoltaické konerence
ISBN
978-80-254-3528-1
ISSN
—
e-ISSN
—
Number of pages
5
Pages from-to
—
Publisher name
Czech RE Agency
Place of publication
Rožnov pod Radhoštěm
Event location
Brno
Event date
Nov 3, 2008
Type of event by nationality
EUR - Evropská akce
UT code for WoS article
—