Study of solar cells I-V chracteristics behaviour in wide range of temperature

Result code in IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216305%3A26220%2F08%3APU75859" target="_blank" >RIV/00216305:26220/08:PU75859 - isvavai.cz</a>

Result on the web

—

DOI - Digital Object Identifier

—

Result language

angličtina

Original language name

Study of solar cells I-V chracteristics behaviour in wide range of temperature

Original language description

This article is focused on single-crystal silicon solar cells study. The function of solar cell could be affected by many defects e.g. dislocations or impurities in silicon. These defects are often local and can result in lower efficiency or shorter solar cell lifetime. Consequently, we can observe many of defects in electric characteristics of solar cells. Measured IV-characteristics and noise signals provide information for defects classification and/or identification. The results of two basic types of the silicon solar cells measuring at very low temperatures are presented in this paper. Used types of solar cells differ in surface texturing. A cryogenic system with wide range of regulated temperatures is used for this measuring. The microscopic study results of samples surface scanning are also presented.

Czech name

Studium VA-charakteristik solárních článků v širokém rozsahu teplot

Czech description

Tento článek je studium monokrystalických křemíkových solárních článků. Funkčnost solárních článků může být často ovlivněna přítomností mnoha defektů jako například dislokací nebo přítomností nečistot. Tyto defekty jsou často lokálního charakteru a způsobují snížení účinnosti článků a snížení provozní doby života. Mnoho defektů může být sledováno v elektrické oblasti. Měření VA-charakteristik a šumových proudů poskytuje velmi cenné informace pro klasifikaci defektů a jejich identifikaci. V tomto článkubudou publikovány výsledky měření na základních dvou typech solárních článků získaných v kryogenním systému. Studium je doplněno i o mikroskopické sledování povrchu vzorků.

Type

D - Article in proceedings

CEP classification

BM - Solid-state physics and magnetism

OECD FORD branch

—

Project

<a href="/en/project/GA102%2F06%2F1551" target="_blank" >GA102/06/1551: Diagnostics of PN junction electronic devices by means of microplasma noise evaluation</a><br>

Continuities

Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)

Publication year

2008

Confidentiality

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Article name in the collection

Electronic Devices and Systems EDS08

ISBN

978-80-214-3717-3

ISSN

—

e-ISSN

—

Number of pages

6

Pages from-to

—

Publisher name

Brno University of Technology

Place of publication

Brno

Event location

Brno

Event date

Sep 10, 2008

Type of event by nationality

WRD - Celosvětová akce

UT code for WoS article

—