Microplasma noise as a tool for PN junctions diagnostics

Result code in IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216305%3A26220%2F08%3APU76406" target="_blank" >RIV/00216305:26220/08:PU76406 - isvavai.cz</a>

Result on the web

—

DOI - Digital Object Identifier

—

Result language

angličtina

Original language name

Microplasma noise as a tool for PN junctions diagnostics

Original language description

The present paper deals with noise diagnostics of PN junctions in semiconductor devices. The general tool to be employed here is the microplasma noise, which arises in reverse biased PN junctions containing local defects featuring lower breakdown voltagethan the rest PN junction. When a high electric field is applied to this PN junction, local breakdowns arises in micro-sized regions, which in turn can lead to the deterioration in quality or destruction of the PN junction. It is therefore advisable touse methods which can indicate the presence of these regions in the junction and make the quality assessment and quantitative description of the tested devices possible.

Czech name

Šum mikroplazmy jako prostředek pro diagnostuiku PN přechodů

Czech description

Článek se zabývá šumovou diagnostikou PN přechodů polovodičových součástek. Základním nástrojem je zde šum mikroplazmy, který vzniká v závěrně polarizovaných PN přechodech obsahujících lokální defekty s nižším průrazným napětím, než má zbytek přechodu. Při aplikaci elektrického pole pak zde dochází ke vzniku lokálních lavinových průrazů, které mohou způsobit zhoršení kvality nebo zničení PN přechodu.

Type

J_x - Unclassified - Peer-reviewed scientific article (Jimp, Jsc and Jost)

CEP classification

BM - Solid-state physics and magnetism

OECD FORD branch

—

Project

<a href="/en/project/GA102%2F06%2F1551" target="_blank" >GA102/06/1551: Diagnostics of PN junction electronic devices by means of microplasma noise evaluation</a><br>

Continuities

Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)

Publication year

2008

Confidentiality

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Name of the periodical

WSEAS Transactions on Electronics

ISSN

1109-9445

e-ISSN

—

Volume of the periodical

4

Issue of the periodical within the volume

9

Country of publishing house

US - UNITED STATES

Number of pages

6

Pages from-to

—

UT code for WoS article

—

EID of the result in the Scopus database

—