Noise diagnostics of local defects in solar cells pn junctions

Result code in IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216305%3A26220%2F08%3APU77893" target="_blank" >RIV/00216305:26220/08:PU77893 - isvavai.cz</a>

Result on the web

—

DOI - Digital Object Identifier

—

Result language

angličtina

Original language name

Noise diagnostics of local defects in solar cells pn junctions

Original language description

The present paper deals with noise diagnostics of local defects in monocrystalline silicon solar cells PN junctions. The useful tool is the microplasma noise, which arises in reverse biased PN junctions containing local defects featuring lower breakdownvoltage than the rest PN junction. When a high electric field is applied to this PN junction, local breakdowns arise in micro-sized regions, which in turn can lead to the deterioration in quality or destruction of the PN junction. The correlation betweenthe microplasma current noise and the emitted radiation was studied by means of two methods. The first method is based on simultaneous measurement of the current microplasma noise and the photomultiplier output voltage time behaviour for the constant reverse voltage. The second method uses simultaneous measurement of the reverse-biased PN junction narrow-band RMS noise current and the photomultiplier output narrow band RMS voltage for the ramp reverse voltage. The set of crystalline sil

Czech name

Šumová diagnostika lokálních defektů v PN přechodech solárních článků

Czech description

Článek se zabývá šumovou diagnostikou lokálních defektů v monokrystalických křemíkových solárních článcích. Nástrojem je zde šum mikroplazmy, který vzniká v závěrně polarizovaných PN přechodech obsahujících lokální defekty. Byla sledována korelace mezi proudovým šumem mikroplazmy a zářením emitovaným z PN přechodu. Dále bylo pro účely diagnostiky využito měření efektivní hodnoty úzkopásmového šumového proudu v závislosti na závěrném napětí. Touto metodou byly testovány solární články různých struktur.

Type

D - Article in proceedings

CEP classification

BM - Solid-state physics and magnetism

OECD FORD branch

—

Project

<a href="/en/project/GA102%2F06%2F1551" target="_blank" >GA102/06/1551: Diagnostics of PN junction electronic devices by means of microplasma noise evaluation</a><br>

Continuities

Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)

Publication year

2008

Confidentiality

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Article name in the collection

Proceedings of 23rd European Photovoltaic Solar Energy Conference

ISBN

3-936338-24-8

ISSN

—

e-ISSN

—

Number of pages

5

Pages from-to

—

Publisher name

WIP-Renewable Energies

Place of publication

Valencia, Spain

Event location

Valencie

Event date

Sep 1, 2008

Type of event by nationality

EUR - Evropská akce

UT code for WoS article

—