Characteristics of RTS noise in MOSFETs
The result's identifiers
Result code in IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216305%3A26220%2F08%3APU78311" target="_blank" >RIV/00216305:26220/08:PU78311 - isvavai.cz</a>
Result on the web
—
DOI - Digital Object Identifier
—
Alternative languages
Result language
čeština
Original language name
Charakteristiky RTS šumu v tranzistorech MOSFET
Original language description
Nízkofrekvenční šum v tranzistorech MOSFET je tvořen především složkami šumu typu 1/f a RTS. Článek se zabývá analýzou jejich závislosti na rozměrech kanálu a počtu nosičů náboje v něm a dále vlivu intenzity elektrického pole v kanálu na amplitudu RTS šumu. Na základě měření časové závislosti šumového napětí v širokém rozmezí teplot byly dále určeny základní parametry pastí.
Czech name
Charakteristiky RTS šumu v tranzistorech MOSFET
Czech description
Nízkofrekvenční šum v tranzistorech MOSFET je tvořen především složkami šumu typu 1/f a RTS. Článek se zabývá analýzou jejich závislosti na rozměrech kanálu a počtu nosičů náboje v něm a dále vlivu intenzity elektrického pole v kanálu na amplitudu RTS šumu. Na základě měření časové závislosti šumového napětí v širokém rozmezí teplot byly dále určeny základní parametry pastí.
Classification
Type
J<sub>x</sub> - Unclassified - Peer-reviewed scientific article (Jimp, Jsc and Jost)
CEP classification
JA - Electronics and optoelectronics
OECD FORD branch
—
Result continuities
Project
<a href="/en/project/GA102%2F08%2F0260" target="_blank" >GA102/08/0260: Low-frequency noise in submicron MOSFET and HEMT structures</a><br>
Continuities
Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)
Others
Publication year
2008
Confidentiality
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů
Data specific for result type
Name of the periodical
Slaboproudý obzor
ISSN
0037-668X
e-ISSN
—
Volume of the periodical
64
Issue of the periodical within the volume
3-4
Country of publishing house
CZ - CZECH REPUBLIC
Number of pages
4
Pages from-to
—
UT code for WoS article
—
EID of the result in the Scopus database
—