All

What are you looking for?

All
Projects
Results
Organizations

Quick search

  • Projects supported by TA ČR
  • Excellent projects
  • Projects with the highest public support
  • Current projects

Smart search

  • That is how I find a specific +word
  • That is how I leave the -word out of the results
  • “That is how I can find the whole phrase”

Test Controller Synthesis Constrained by Circuit Testability Analysis

The result's identifiers

  • Result code in IS VaVaI

    <a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216305%3A26230%2F07%3APU70868" target="_blank" >RIV/00216305:26230/07:PU70868 - isvavai.cz</a>

  • Result on the web

  • DOI - Digital Object Identifier

Alternative languages

  • Result language

    angličtina

  • Original language name

    Test Controller Synthesis Constrained by Circuit Testability Analysis

  • Original language description

    In the paper, a method for test controller synthesis based on testability analysis results is presented. The proposed method enables to create a Finite State Machine with output, which can control all enable, address and clock inputs of elements in the circuit during the test application process. Proposed testability analysis method is efficient for RT level pipelined data-path circuit. Close coupling of testability analysis and test controller synthesis saves the test cost in terms of area overhead, test time and fault coverage. All processes are described formally.

  • Czech name

    Syntéza řadiče testu založená na analýze testovatelnosti obvodu

  • Czech description

    V článku je popsána metoda syntézy řadiče testu&nbsp;využívající výsledky analýzy testovatelnosti. Navržená metoda umožňuje vytvořit konečný automat s výstupem, jež může v průběhu testu řídit povolovací, adresové a hodinové vstupy prvků testovaného obvodu. Popsaná metoda analýzy testovatelnosti je efektivní pro zřetězené struktury datové části obvodů popsané na úrovni RT. Těsné svázání analýzy testovatelnost a syntézy řadiče testu umožní zlevnit testování obvodů ve smyslu snížení plochy čipu nutné pouzepro testování, snížení doby testu a zvýšení pokrytí poruch. Veškeré postupy jsou formálně popsány.

Classification

  • Type

    D - Article in proceedings

  • CEP classification

    JC - Computer hardware and software

  • OECD FORD branch

Result continuities

  • Project

  • Continuities

    Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)

Others

  • Publication year

    2007

  • Confidentiality

    S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Data specific for result type

  • Article name in the collection

    Proceedings of 10th Euromicro Conference on Digital System Design, Architectures, Methods and Tools

  • ISBN

    0-7695-2978-X

  • ISSN

  • e-ISSN

  • Number of pages

    8

  • Pages from-to

    626-633

  • Publisher name

    IEEE Computer Society Press

  • Place of publication

    Los Alamitos

  • Event location

    Lübeck

  • Event date

    Aug 27, 2007

  • Type of event by nationality

    WRD - Celosvětová akce

  • UT code for WoS article