All

What are you looking for?

All
Projects
Results
Organizations

Quick search

  • Projects supported by TA ČR
  • Excellent projects
  • Projects with the highest public support
  • Current projects

Smart search

  • That is how I find a specific +word
  • That is how I leave the -word out of the results
  • “That is how I can find the whole phrase”

SiC wafer for MOSFET application (polished)

The result's identifiers

  • Result code in IS VaVaI

    <a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F26821532%3A_____%2F23%3AN0000003" target="_blank" >RIV/26821532:_____/23:N0000003 - isvavai.cz</a>

  • Result on the web

    <a href="http://www.onsemi.com" target="_blank" >http://www.onsemi.com</a>

  • DOI - Digital Object Identifier

Alternative languages

  • Result language

    čeština

  • Original language name

    SiC deska pro MOSFET aplikace (leštěná)

  • Original language description

    SiC desky pro MOSFET (leštěná deska): Funkční vzorky jsou přímo spojeny s ověřením výše uvedených technologií Jedná se o širokou skupinu vzorků ve specifikacích pro různá napětí (z pohledu epitaxní vrstvy), které ale reálně představují 2 principiální úrovně funkčních vzorků: Leštěná SiC deska vyrobená s vlastním SiC krystalem a SiC deska vyrobená s externím SiC krystalem.

  • Czech name

    SiC deska pro MOSFET aplikace (leštěná)

  • Czech description

Classification

  • Type

    G<sub>funk</sub> - Functional sample

  • CEP classification

  • OECD FORD branch

    20501 - Materials engineering

Result continuities

  • Project

    <a href="/en/project/EG20_321%2F0024782" target="_blank" >EG20_321/0024782: Research and Development of Manufacturing Technologies for SiC Crystals and Wafers for Advanced Electronic Applications</a><br>

  • Continuities

    P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)

Others

  • Publication year

    2023

  • Confidentiality

    C - Předmět řešení projektu podléhá obchodnímu tajemství (§ 504 Občanského zákoníku), ale název projektu, cíle projektu a u ukončeného nebo zastaveného projektu zhodnocení výsledku řešení projektu (údaje P03, P04, P15, P19, P29, PN8) dodané do CEP, jsou upraveny tak, aby byly zveřejnitelné.

Data specific for result type

  • Internal product ID

    SIC6S006, 52AON19829H

  • Numerical identification

    3313034006

  • Technical parameters

    SiC desky pro MOSFET (leštěná deska): Funkční vzorky jsou přímo spojeny s ověřením výše uvedených technologií Jedná se o širokou skupinu vzorků ve specifikacích pro různá napětí (z pohledu epitaxní vrstvy), které ale reálně představují 2 principiální úrovně funkčních vzorků: Leštěná SiC deska vyrobená s vlastním SiC krystalem a SiC deska vyrobená s externím SiC krystalem. Detailní popis výsledku: skupina specifikaci 150 mm SiC desky pro MOSFET aplikace SIC6S006/52AON######H (řízená dokumentace, která podléhá obchodnímu tajemství).

  • Economical parameters

    Jednotková cena leštěné SiC desky <900USD.

  • Application category by cost

  • Owner IČO

    26821532

  • Owner name

    ON SEMICONDUCTOR CZECH REPUBLIC, s.r.o.

  • Owner country

    CZ - CZECH REPUBLIC

  • Usage type

    V - Výsledek je využíván vlastníkem

  • Licence fee requirement

    A - Poskytovatel licence na výsledek požaduje licenční poplatek

  • Web page

    www.onsemi.com