System-on-a-Chip Diagnostics Using RESPIN Architecture

Result code in IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F46747885%3A24220%2F05%3A00000138" target="_blank" >RIV/46747885:24220/05:00000138 - isvavai.cz</a>

Result on the web

—

DOI - Digital Object Identifier

—

Result language

angličtina

Original language name

System-on-a-Chip Diagnostics Using RESPIN Architecture

Original language description

SoC diagnostics is based on the proposed IEEE 1500 standard and allows testing of cores in the system-on-a-chip by compressed test patterns. The RESPIN architecture decompresses the test patterns of a core with using other idle cores in the SoC.

Czech name

Diagnostika SoC obvodů využívající RESPIN architekturu

Czech description

Diagnostika systému na čipu je založena na navrženém standardu IEEE 1500 a dovoluje testováni jader v obvodech SoC kompresním testovacím vzorkem. RESPIN architektura testovací vzorek dekomprimuje a k dekomprimaci využívá jiných jader SoC obvodu.

Type

A - Audiovisual production

CEP classification

JA - Electronics and optoelectronics

OECD FORD branch

—

Project

<a href="/en/project/GA102%2F04%2F2137" target="_blank" >GA102/04/2137: Design of highly reliable control systems built on dynamically reconfigurable FPGAs.</a><br>

Continuities

P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)

Publication year

2005

Confidentiality

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

ISBN

—

Place of publication

Budapest, Hungary

Publisher/client name

—

Version

EDCC-5

Carrier ID

—