A device for measuring the thickness a deposited thin layer

Result code in IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F47677023%3A_____%2F17%3AN0000001" target="_blank" >RIV/47677023:_____/17:N0000001 - isvavai.cz</a>
Alternative codes found
RIV/61989592:15310/17:73584831
Result on the web
—
DOI - Digital Object Identifier
—

Result language
čeština
Original language name
Zařízení pro měření tloušťky deponované tenké vrstvy
Original language description
Popsané zařízení je využíváno v aparaturách pro depozici tenkých vrstev a jejich systémů. Zařízení minimalizuje vznik nežádoucích tenkých vrstev na aktivních plochách měřících sond systémů pro „in situ“ měření tloušťky deponované vrstvy v průběhu depozičního procesu.
Czech name
Zařízení pro měření tloušťky deponované tenké vrstvy
Czech description
Popsané zařízení je využíváno v aparaturách pro depozici tenkých vrstev a jejich systémů. Zařízení minimalizuje vznik nežádoucích tenkých vrstev na aktivních plochách měřících sond systémů pro „in situ“ měření tloušťky deponované vrstvy v průběhu depozičního procesu.

Project
<a href="/en/project/TA04011156" target="_blank" >TA04011156: Functional thin film optical structures.</a><br>
Continuities
P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)

Publication year
2017
Confidentiality
C - Předmět řešení projektu podléhá obchodnímu tajemství (§ 504 Občanského zákoníku), ale název projektu, cíle projektu a u ukončeného nebo zastaveného projektu zhodnocení výsledku řešení projektu (údaje P03, P04, P15, P19, P29, PN8) dodané do CEP, jsou upraveny tak, aby byly zveřejnitelné.

Patent/design ID
31036
Publisher
BT001 -
Publisher name
Industrial Property Division
Place of publication
Thimpu
Publication country
BT - BHUTAN
Date of acceptance
—
Owner name
Univezita Palackého v Olomouci
Method of use
B - Výsledek je využíván orgány státní nebo veřejné správy
Usage type
P - Využití výsledku jiným subjektem je v některých případech možné bez nabytí licence

Similar results(10)