A device for measuring the thickness a deposited thin layer

Result code in IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F61989592%3A15310%2F17%3A73584831" target="_blank" >RIV/61989592:15310/17:73584831 - isvavai.cz</a>
Alternative codes found
RIV/47677023:_____/17:N0000001
Result on the web
<a href="http://isdv.upv.cz/doc/FullFiles/UtilityModels/FullDocuments/FDUM0031/uv031036.pdf" target="_blank" >http://isdv.upv.cz/doc/FullFiles/UtilityModels/FullDocuments/FDUM0031/uv031036.pdf</a>
DOI - Digital Object Identifier
—

Result language
čeština
Original language name
Zařízení pro měření tloušťky deponované tenké vrstvy
Original language description
Popsané zařízení je využíváno v aparaturách pro depozici tenkých vrstev a jejich systémů. Zařízení minimalizuje vznik nežádoucích tenkých vrstev na aktivních plochách měřících sond systémů pro „in situ“ měření tloušťky deponované vrstvy v průběhu depozičního procesu.
Czech name
Zařízení pro měření tloušťky deponované tenké vrstvy
Czech description
Popsané zařízení je využíváno v aparaturách pro depozici tenkých vrstev a jejich systémů. Zařízení minimalizuje vznik nežádoucích tenkých vrstev na aktivních plochách měřících sond systémů pro „in situ“ měření tloušťky deponované vrstvy v průběhu depozičního procesu.

Project
<a href="/en/project/TA04011156" target="_blank" >TA04011156: Functional thin film optical structures.</a><br>
Continuities
P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)

Publication year
2017
Confidentiality
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Patent/design ID
31036
Publisher
CZ001 -
Publisher name
Industrial Property Office
Place of publication
Prague
Publication country
CZ - CZECH REPUBLIC
Date of acceptance
—
Owner name
Univerzita Palackého v Olomouci
Method of use
A - Výsledek využívá pouze poskytovatel
Usage type
P - Využití výsledku jiným subjektem je v některých případech možné bez nabytí licence

Similar results(10)