Measurement of the phase spectra of transparent thin films using white-light interferometry

Result code in IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F47813059%3A19240%2F03%3A%230002019" target="_blank" >RIV/47813059:19240/03:#0002019 - isvavai.cz</a>
Result on the web
—
DOI - Digital Object Identifier
—

Result language
angličtina
Original language name
Measurement of the phase spectra of transparent thin films using white-light interferometry
Original language description
Two-beam spectral interference at the output of a slightly dispersive Michelson interferometer is used to measure the phase spectra of transparent thin films over a wide range of wavelengths. First, using a Fourier transform method in processing of the recorded spectral interferograms the ambiguous spectral fringe phase function is obtained...
Czech name
Měření fázového spektra transparentních tenkých filmů s použitím interferometrie bílého světla
Czech description
Dvoupaprsková interference na výstupu lehce disperzního Michelsonova interferometru je použita k měření fázového spektra transparentních filmů skrze širokou škálu vlnových délek. Použitím Fourierovy transformace v procesu zaznamenaného spektrálního interferogramu byly získány nejednoznačné fázové funkce spektrálních proužků.

Publication year
2003
Confidentiality
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Article name in the collection
MICROWAVE AND OPTICAL TECHNOLOGY 2003: PROCEEDINGS OF THE SOCIETY OF PHOTO-OPTICAL INSTRUMENTATION ENGINEERS (SPIE)
ISBN
0-8194-5368-4
ISSN
0277-786X
e-ISSN
—
Number of pages
4
Pages from-to
—
Publisher name
SPIE-INT SOC OPTICAL ENGINEERING, 1000 20TH ST, PO BOX 10, BELLINGHAM, WA 98227-0010 USA
Place of publication
USA
Event location
Ostrava, CZECH REPUBLIC
Event date
Jan 1, 2003
Type of event by nationality
EUR - Evropská akce
UT code for WoS article
000221853300024

Similar results(10)