Diagnostic methods in the process of crysatlline silicon solar cell production

Result code in IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F49610040%3A_____%2F08%3A%230000007" target="_blank" >RIV/49610040:_____/08:#0000007 - isvavai.cz</a>

Result on the web

—

DOI - Digital Object Identifier

—

Result language

čeština

Original language name

Diagnostické metody v procesu výroby krystalických křemíkových solárních článků

Original language description

V procesu výroby solárních článků na bázi krystalického křemíku je standartně užívána řada diagnostických metod pro udržení požadovaných optických a elektrických vlastností a určení parametrů po jednotlivých technologických operacích. Samotné použití těchto standardních charakterizačních metod (jako například měření totální optické relexe po texturizačním procesu, měření vrstvového odporu difundované n+ vrstvy či určení tloušťky a indexu lomu antireflexní Si3N4 vrstvy) negarantuje dosažitelnou účinnostvýsledného solárního článku. Pro tento účel je zapotření monitorovat i elektronickou kvalitu zpracovávané Si desky, kterou dobře charakterizuje doba života minoritních nosičů. Tento příspěvek je zaměřen na demonstraci charakterizačních metod MW PCD (Microwave Photoconductance Decay) a QSSPC (Quasi Steady State Photoconduntance) v procesu výroby solárních článků s cílem identifikovat ?roadmap? pro dosažení konverzní účinnosti solárních článků přes 18%.

Czech name

Diagnostické metody v procesu výroby krystalických křemíkových solárních článků

Czech description

V procesu výroby solárních článků na bázi krystalického křemíku je standartně užívána řada diagnostických metod pro udržení požadovaných optických a elektrických vlastností a určení parametrů po jednotlivých technologických operacích. Samotné použití těchto standardních charakterizačních metod (jako například měření totální optické relexe po texturizačním procesu, měření vrstvového odporu difundované n+ vrstvy či určení tloušťky a indexu lomu antireflexní Si3N4 vrstvy) negarantuje dosažitelnou účinnostvýsledného solárního článku. Pro tento účel je zapotření monitorovat i elektronickou kvalitu zpracovávané Si desky, kterou dobře charakterizuje doba života minoritních nosičů. Tento příspěvek je zaměřen na demonstraci charakterizačních metod MW PCD (Microwave Photoconductance Decay) a QSSPC (Quasi Steady State Photoconduntance) v procesu výroby solárních článků s cílem identifikovat ?roadmap? pro dosažení konverzní účinnosti solárních článků přes 18%.

Type

D - Article in proceedings

CEP classification

BM - Solid-state physics and magnetism

OECD FORD branch

—

Project

Result was created during the realization of more than one project. More information in the Projects tab.

Continuities

P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)

Publication year

2008

Confidentiality

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Article name in the collection

3. Česká fotovoltaická konference

ISBN

978-80-254-3528-1

ISSN

—

e-ISSN

—

Number of pages

5

Pages from-to

—

Publisher name

—

Place of publication

—

Event location

Brno

Event date

Nov 3, 2008

Type of event by nationality

CST - Celostátní akce

UT code for WoS article

—