Test of influence electrochemical migration (EMC) on reliability electrinic devices

Result code in IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F49777513%3A23220%2F05%3A00000132" target="_blank" >RIV/49777513:23220/05:00000132 - isvavai.cz</a>

Result on the web

—

DOI - Digital Object Identifier

—

Result language

čeština

Original language name

Testování vlivů elektrochemické migrace (ECM) na spolehlivost elektronických zařízení

Original language description

Tento článek se zabývá problematikou elektrochemické migrace na deskách plošných spojů. Jsou prezentovány některé výsledky měření s izotropicky vodivými lepidly, které byly změřeny na naší katedře. Motivem pro provádění těchto experimentů bylo prokázání

Czech name

Testování vlivů elektrochemické migrace (ECM) na spolehlivost elektronických zařízení

Czech description

Tento článek se zabývá problematikou elektrochemické migrace na deskách plošných spojů. Jsou prezentovány některé výsledky měření s izotropicky vodivými lepidly, které byly změřeny na naší katedře. Motivem pro provádění těchto experimentů bylo prokázání

Type

D - Article in proceedings

CEP classification

JA - Electronics and optoelectronics

OECD FORD branch

—

Project

—

Continuities

Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)

Publication year

2005

Confidentiality

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Article name in the collection

Diagnostika ´05

ISBN

80-7043-368-X

ISSN

—

e-ISSN

—

Number of pages

4

Pages from-to

255-258

Publisher name

Západočeská univerzita

Place of publication

Plzeň

Event location

Nečtiny

Event date

Jan 1, 2005

Type of event by nationality

EUR - Evropská akce

UT code for WoS article

—