Optical analysis of thin films using nonlinear least squares method
The result's identifiers
Result code in IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F60162694%3AG43__%2F08%3A%230001795" target="_blank" >RIV/60162694:G43__/08:#0001795 - isvavai.cz</a>
Result on the web
—
DOI - Digital Object Identifier
—
Alternative languages
Result language
čeština
Original language name
Optická analýza tenkých vrstev pomocí nelineární metody nejmenších čtverců
Original language description
Příspěvek se zabývá optickou analýzou tenkých vrstev. Experimentální data jsou vyhodnocena pomocí nelineární metody nejmenších čtverců. Získané hledané parametry včetně jejich nejistot popisují optické i statistické parametry tenkých vrstev.
Czech name
Optická analýza tenkých vrstev pomocí nelineární metody nejmenších čtverců
Czech description
Příspěvek se zabývá optickou analýzou tenkých vrstev. Experimentální data jsou vyhodnocena pomocí nelineární metody nejmenších čtverců. Získané hledané parametry včetně jejich nejistot popisují optické i statistické parametry tenkých vrstev.
Classification
Type
D - Article in proceedings
CEP classification
BH - Optics, masers and lasers
OECD FORD branch
—
Result continuities
Project
—
Continuities
Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)<br>S - Specificky vyzkum na vysokych skolach
Others
Publication year
2008
Confidentiality
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů
Data specific for result type
Article name in the collection
Sborník abstraktů a příspěvků XXVI. mezinárodního kolokvia o řízení osvojovacího procesu
ISBN
978-80-7231-511-6
ISSN
—
e-ISSN
—
Number of pages
9
Pages from-to
—
Publisher name
Univerzita obrany
Place of publication
Brno
Event location
Brno
Event date
Jan 1, 2008
Type of event by nationality
CST - Celostátní akce
UT code for WoS article
—