All

What are you looking for?

All
Projects
Results
Organizations

Quick search

  • Projects supported by TA ČR
  • Excellent projects
  • Projects with the highest public support
  • Current projects

Smart search

  • That is how I find a specific +word
  • That is how I leave the -word out of the results
  • “That is how I can find the whole phrase”

Application of SEM-FIB-EBSD for microstructural characterization of light metals after ECAP

The result's identifiers

  • Result code in IS VaVaI

    <a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F60461373%3A22310%2F10%3A00023116" target="_blank" >RIV/60461373:22310/10:00023116 - isvavai.cz</a>

  • Result on the web

  • DOI - Digital Object Identifier

Alternative languages

  • Result language

    čeština

  • Original language name

    Využití SEM-FIB-EBSD pro analýzu mikrostruktury a mikrotextury lehkých kovů po intenzivní plastické deformaci metodou ECAP

  • Original language description

    Jednou z mála metod, která je schopna určit krystalovou orientaci mřížky s rozlišením v řádu desítek nanometrů je vysokorozlišovací řádkovací elektronová mikroskopie (SEM) s detektorem difraktovaných zpětně odražených elektronů (EBSD). Spojení SEM-EBSD sfokusovaným iontovým svazkem (FIB), který umožňuje definované ?odprašování? materiálu, představuje techniku schopnou 3D mikrostrukturní analýzy. Tato práce se zabývá využitím metody EBSD pro analýzu mikrostruktury a mikrotextury lehkých kovů (hořčík, hliník a jejich slitiny) po intenzivní plastické deformaci metodou ECAP. Na vybrané hliníkové slitině bude dále demonstrována 3D mikrostrukturní analýza a možnosti využití SEM-FIB-EBSD.

  • Czech name

    Využití SEM-FIB-EBSD pro analýzu mikrostruktury a mikrotextury lehkých kovů po intenzivní plastické deformaci metodou ECAP

  • Czech description

    Jednou z mála metod, která je schopna určit krystalovou orientaci mřížky s rozlišením v řádu desítek nanometrů je vysokorozlišovací řádkovací elektronová mikroskopie (SEM) s detektorem difraktovaných zpětně odražených elektronů (EBSD). Spojení SEM-EBSD sfokusovaným iontovým svazkem (FIB), který umožňuje definované ?odprašování? materiálu, představuje techniku schopnou 3D mikrostrukturní analýzy. Tato práce se zabývá využitím metody EBSD pro analýzu mikrostruktury a mikrotextury lehkých kovů (hořčík, hliník a jejich slitiny) po intenzivní plastické deformaci metodou ECAP. Na vybrané hliníkové slitině bude dále demonstrována 3D mikrostrukturní analýza a možnosti využití SEM-FIB-EBSD.

Classification

  • Type

    D - Article in proceedings

  • CEP classification

    JG - Metallurgy, metal materials

  • OECD FORD branch

Result continuities

  • Project

    <a href="/en/project/KAN300100801" target="_blank" >KAN300100801: Multifunctional bulk metallic materials with nanocrystalline and ultrafine-grained structure</a><br>

  • Continuities

    Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)<br>S - Specificky vyzkum na vysokych skolach

Others

  • Publication year

    2010

  • Confidentiality

    S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Data specific for result type

  • Article name in the collection

    Mikroskopie a nedestruktivní zkoušení materiálů

  • ISBN

    978-80-7414-280-2

  • ISSN

  • e-ISSN

  • Number of pages

    5

  • Pages from-to

  • Publisher name

    UJEP

  • Place of publication

    Ústí nad Labem

  • Event location

    Litoměřice, Česká republika

  • Event date

    Jan 1, 2010

  • Type of event by nationality

    WRD - Celosvětová akce

  • UT code for WoS article