Analysis of Applicability of Partial Runtime Reconfiguration in Fault Emulator in Xilinx FPGAs
The result's identifiers
Result code in IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F67985556%3A_____%2F08%3A00306846" target="_blank" >RIV/67985556:_____/08:00306846 - isvavai.cz</a>
Result on the web
—
DOI - Digital Object Identifier
—
Alternative languages
Result language
angličtina
Original language name
Analysis of Applicability of Partial Runtime Reconfiguration in Fault Emulator in Xilinx FPGAs
Original language description
This paper analyses applicability of partial runtime reconfiguration (PRR) in fault emulators based on FPGAs of Xilinx Virtex family. PRR is used for loading emulator modules and for injecting faults into the emulated circuit. Since the time of reconfiguration may have significant impact on its usability, this paper deals with this issue. The goal was to accelerate PRR and to evaluate the time needed for fault injection by PRR on these FPGAs. Experimental results show that we have achieved up to eight times faster reconfiguration compared to the original Xilinx method, and fault injection time about 77us per one emulated fault.
Czech name
Analýza možností použití částečné dynamické rekonfigurace v emulátoru poruch v FPGA Xilinx
Czech description
Tento článek se zabývá možnostmi využití částečné dynamické rekonfigurace v emulátoru poruch v FPGA Xilinx Virtex. Částečná dynamická rekonfigurace je použita pro nahrávání modulů emulátoru do FPGA a pro vkládání poruch. Využitelnost dynamické rekonfigurace velmi závisí na době rekonfigurace, a proto se tento článek zabývá také urychlením rekonfigurace a vyhodnocením času potřebného pro vložení jedné poruchy. Navrhovaná metoda rekonfigurace byla až 8x rychlejší než původní metoda. Naměřená doba vloženíjedné poruchy byla 77us.
Classification
Type
D - Article in proceedings
CEP classification
JC - Computer hardware and software
OECD FORD branch
—
Result continuities
Project
<a href="/en/project/1QS108040510" target="_blank" >1QS108040510: Technology for improving the testability of modern digital circuits</a><br>
Continuities
P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)<br>Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)
Others
Publication year
2008
Confidentiality
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů
Data specific for result type
Article name in the collection
Proceedings 2008 IEEE Workshop on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems
ISBN
978-1-4244-2276-0
ISSN
—
e-ISSN
—
Number of pages
4
Pages from-to
178-181
Publisher name
IEEE
Place of publication
Piscataway
Event location
Bratislava
Event date
Apr 16, 2008
Type of event by nationality
WRD - Celosvětová akce
UT code for WoS article
—