Applications of scanning thermal microscopy in the analysis of the geometry of patterned structures
The result's identifiers
Result code in IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68081723%3A_____%2F06%3A00044322" target="_blank" >RIV/68081723:_____/06:00044322 - isvavai.cz</a>
Alternative codes found
RIV/00177016:_____/06:#0000306
Result on the web
—
DOI - Digital Object Identifier
—
Alternative languages
Result language
angličtina
Original language name
Applications of scanning thermal microscopy in the analysis of the geometry of patterned structures
Original language description
In this article, the results of the scanning thermal microscopy (SThM) analysis of artificial structures such as microchip surfaces and solar cell contacts are presented. It is shown that in the absence of surface roughness the SThM can be used to obtainreliable material contrast images. However, roughness and other topographical features can influence the thermal data in a strong way.
Czech name
Použití rastrovací termální mikroskopie při analýzách geometrie struktury mikročipu
Czech description
V tomto článku jsou uvedeny výsledky týkající se analýzy umělých struktur pomocí rastrovací termální mikroskopie. Je ukázáno,že v případě nepřítomnosti povrchové drsnosti může být tato technika využita k získání spolehlivých obrazů v materiálovém kontrastu. Rovněž se ukazuje,že povrchová drsnost a jiné topografické nerovnosti mohou ovlivnit termální data výrazným způsobem.
Classification
Type
J<sub>x</sub> - Unclassified - Peer-reviewed scientific article (Jimp, Jsc and Jost)
CEP classification
BM - Solid-state physics and magnetism
OECD FORD branch
—
Result continuities
Project
<a href="/en/project/FT-TA%2F094" target="_blank" >FT-TA/094: *Development of the methods for characterization of solid state surfaces.</a><br>
Continuities
Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)
Others
Publication year
2006
Confidentiality
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů
Data specific for result type
Name of the periodical
Surface and Interface Analysis
ISSN
0142-2421
e-ISSN
—
Volume of the periodical
38
Issue of the periodical within the volume
4
Country of publishing house
GB - UNITED KINGDOM
Number of pages
5
Pages from-to
383-387
UT code for WoS article
—
EID of the result in the Scopus database
—