All

What are you looking for?

All
Projects
Results
Organizations

Quick search

  • Projects supported by TA ČR
  • Excellent projects
  • Projects with the highest public support
  • Current projects

Smart search

  • That is how I find a specific +word
  • That is how I leave the -word out of the results
  • “That is how I can find the whole phrase”

Applications of scanning thermal microscopy in the analysis of the geometry of patterned structures

The result's identifiers

  • Result code in IS VaVaI

    <a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68081723%3A_____%2F06%3A00044322" target="_blank" >RIV/68081723:_____/06:00044322 - isvavai.cz</a>

  • Alternative codes found

    RIV/00177016:_____/06:#0000306

  • Result on the web

  • DOI - Digital Object Identifier

Alternative languages

  • Result language

    angličtina

  • Original language name

    Applications of scanning thermal microscopy in the analysis of the geometry of patterned structures

  • Original language description

    In this article, the results of the scanning thermal microscopy (SThM) analysis of artificial structures such as microchip surfaces and solar cell contacts are presented. It is shown that in the absence of surface roughness the SThM can be used to obtainreliable material contrast images. However, roughness and other topographical features can influence the thermal data in a strong way.

  • Czech name

    Použití rastrovací termální mikroskopie při analýzách geometrie struktury mikročipu

  • Czech description

    V tomto článku jsou uvedeny výsledky týkající se analýzy umělých struktur pomocí rastrovací termální mikroskopie. Je ukázáno,že v případě nepřítomnosti povrchové drsnosti může být tato technika využita k získání spolehlivých obrazů v materiálovém kontrastu. Rovněž se ukazuje,že povrchová drsnost a jiné topografické nerovnosti mohou ovlivnit termální data výrazným způsobem.

Classification

  • Type

    J<sub>x</sub> - Unclassified - Peer-reviewed scientific article (Jimp, Jsc and Jost)

  • CEP classification

    BM - Solid-state physics and magnetism

  • OECD FORD branch

Result continuities

  • Project

    <a href="/en/project/FT-TA%2F094" target="_blank" >FT-TA/094: *Development of the methods for characterization of solid state surfaces.</a><br>

  • Continuities

    Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)

Others

  • Publication year

    2006

  • Confidentiality

    S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Data specific for result type

  • Name of the periodical

    Surface and Interface Analysis

  • ISSN

    0142-2421

  • e-ISSN

  • Volume of the periodical

    38

  • Issue of the periodical within the volume

    4

  • Country of publishing house

    GB - UNITED KINGDOM

  • Number of pages

    5

  • Pages from-to

    383-387

  • UT code for WoS article

  • EID of the result in the Scopus database