Non-charging high vacuum mode of the scanning electron microscope

Result code in IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68081731%3A_____%2F02%3A00047173" target="_blank" >RIV/68081731:_____/02:00047173 - isvavai.cz</a>
Result on the web
—
DOI - Digital Object Identifier
—

Result language
čeština
Original language name
Nenabíjející vysokovakuový režim rastrovacího elektronového mikroskopu
Original language description
Byla vypracována, ověřena a uplatněna metoda rastrovací elektronové mikroskopie při tzv. kritické energii, při níž je počet emitovaných elektronů v průměru shodný s počtem dopadajících elektronů a v preparátu zůstává zachována nábojová rovnováha. To umožňuje nenabíjející mikroskopii nevodičů i ve vysokém vakuu. Metoda je založena na měření časového vývoje obrazového signálu z poprvé osvětleného místa preparátu. Energie dopadu elektronů je řízena předpětím preparátu tvořícího katodu tzv. katodové čočky.
Czech name
Nenabíjející vysokovakuový režim rastrovacího elektronového mikroskopu
Czech description
Byla vypracována, ověřena a uplatněna metoda rastrovací elektronové mikroskopie při tzv. kritické energii, při níž je počet emitovaných elektronů v průměru shodný s počtem dopadajících elektronů a v preparátu zůstává zachována nábojová rovnováha. To umožňuje nenabíjející mikroskopii nevodičů i ve vysokém vakuu. Metoda je založena na měření časového vývoje obrazového signálu z poprvé osvětleného místa preparátu. Energie dopadu elektronů je řízena předpětím preparátu tvořícího katodu tzv. katodové čočky.

Project
<a href="/en/project/IBS2065017" target="_blank" >IBS2065017: Scanning electron microscopy of non-conductive specimens</a><br>
Continuities
P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)

Publication year
2002
Confidentiality
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Similar results(10)