Observation of Non-conductive Nanostructures in the Scanning Electron Microscope

Result code in IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68081731%3A_____%2F06%3A00080905" target="_blank" >RIV/68081731:_____/06:00080905 - isvavai.cz</a>
Result on the web
—
DOI - Digital Object Identifier
—

Result language
angličtina
Original language name
Observation of Non-conductive Nanostructures in the Scanning Electron Microscope
Original language description
This paper deals with the observation of the non-conductive samples in the scanning electron microscope by the method of the critical energy finding by the cathode lens system and by the low energy backscattered electron detector. Both methods are described in detail and their advantages are shown by imaging of various non-conductive samples.
Czech name
Pozorování nevodivých nano-struktur v rastrovacím elektronovém mikroskopu
Czech description
Práce se zabývá pozorováním nevodivých vzorků v rastrovacím elektronovém mikroskopu metodou nalezení kritické energie pomocí katodové čočky a detektorem nízkoenergiových zpětně odražených elektronů. Obě metody jsou detailně popsány a jejich výhody jsou ukázány na zobrazení rozličných nevodivých vzorků.

Project
<a href="/en/project/KJB200650501" target="_blank" >KJB200650501: Detection of signal electrons in scaning electron microscopy with low primary beam energies</a><br>
Continuities
P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)<br>Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)

Publication year
2006
Confidentiality
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Similar results(10)