Scanning electron microscopy by slow and Auger electrons.

Result code in IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68081731%3A_____%2F02%3A12020142" target="_blank" >RIV/68081731:_____/02:12020142 - isvavai.cz</a>
Alternative codes found
RIV/00216305:26220/02:PU31043
Result on the web
—
DOI - Digital Object Identifier
—

Result language
čeština
Original language name
Rastrovací elektronová mikroskopie pomalými a Augerovými elektrony.
Original language description
Hlavním cílem práce je srovnání signálů v pomalých a Augerových elektronech in situ v rastrovacím elektronovém mikroskopu. Součástí práce je dokončení experimentálního zařízení, provedení simulací a výpočtů jeho vlastností a interpretace získaných obrazhových dat.
Czech name
Rastrovací elektronová mikroskopie pomalými a Augerovými elektrony.
Czech description
—

Project
<a href="/en/project/IAA1065901" target="_blank" >IAA1065901: Wave-optical contrasts in the scanning electron microscope</a><br>
Continuities
P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)<br>Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)

Publication year
2002
Confidentiality
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Article name in the collection
Sborník prací prezentovaných na Semináři doktorandů oboru Elektronová optika konaném dne 16. 12. 2002.
ISBN
80-238-9915-5
ISSN
—
e-ISSN
—
Number of pages
3
Pages from-to
15-17
Publisher name
Ústav přístrojové techniky AV ČR
Place of publication
Brno
Event location
Brno [CZ]
Event date
Dec 16, 2002
Type of event by nationality
CST - Celostátní akce
UT code for WoS article
—

Similar results(10)