Examination of electronic structures and materials in scanning low energy electron microscope (SLEEM)
The result's identifiers
Result code in IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68081731%3A_____%2F03%3A00100019" target="_blank" >RIV/68081731:_____/03:00100019 - isvavai.cz</a>
Result on the web
—
DOI - Digital Object Identifier
—
Alternative languages
Result language
angličtina
Original language name
Examination of electronic structures and materials in scanning low energy electron microscope (SLEEM)
Original language description
The SLEEM mode, available via moderate adaptation to a conventional SEM, is capable of providing the image resolution nearly constant over the full energy range from the primary beam energy down to even fractions of eV. In this way, one can enter multiple novel contrast mechanisms, directly visualizing details of crystallinic and electronic structure of the specimen, which are particularly important in development and diagnostics of nano-structured materials and devices
Czech name
Zkoumání elektronických struktur a materiálů v rastrovacím nízko-energiovém elektronovém mikroskopu (SLEEM)
Czech description
Režim SLEEM, který je v běžném SEM k dispozici po menší adaptaci, umožňuje dosažení téměř konstantního obrazového rozlišení v celém energiovém rozsahu od energie primárních elektronů až do zlomku eV. Takto je možné studovat mnoho nových kontrastních mechanizmů přímo zviditelňujících detaily krystalických a elektronických struktur vzorku, které jsou důležité zejména ve vývoji a diagnostice nano-strukturních materiálů a prvků
Classification
Type
D - Article in proceedings
CEP classification
JA - Electronics and optoelectronics
OECD FORD branch
—
Result continuities
Project
<a href="/en/project/IAA1065304" target="_blank" >IAA1065304: Multichannel spectro-microscopy with slow and Auger electrons</a><br>
Continuities
P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)
Others
Publication year
2003
Confidentiality
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů
Data specific for result type
Article name in the collection
Proceedings of the International Conference NANO'03
ISBN
80-214-2527-X
ISSN
—
e-ISSN
—
Number of pages
6
Pages from-to
87-92
Publisher name
ČSNMT
Place of publication
Praha
Event location
Brno
Event date
Sep 21, 2003
Type of event by nationality
WRD - Celosvětová akce
UT code for WoS article
—