EOD (Electron Optical Design) Program For Computations For Electron Microscopy
The result's identifiers
Result code in IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68081731%3A_____%2F05%3A00022399" target="_blank" >RIV/68081731:_____/05:00022399 - isvavai.cz</a>
Result on the web
—
DOI - Digital Object Identifier
—
Alternative languages
Result language
angličtina
Original language name
EOD (Electron Optical Design) Program For Computations For Electron Microscopy
Original language description
EOD is a program which integrates the user interfaces for Windows and the computations of fields and the optical properties. Recent development of EOD were aimed at improving the interfaces for the input and output of FEM computations and ray tracing.
Czech name
EOD (Electron Optical Design) program pro výpočty v elektronové mikroskopii
Czech description
EOD je program, který integruje uživatelský interfejs ve Windows a výpočty polí metodou konečných prvků s výpočty optických vlastností. Nedávný vývoj EOD byl zaměřen na zdokonalení interfejsu pro vstup dat pro metodu konečných prvků a pro trasování částic.
Classification
Type
D - Article in proceedings
CEP classification
JA - Electronics and optoelectronics
OECD FORD branch
—
Result continuities
Project
—
Continuities
Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)
Others
Publication year
2005
Confidentiality
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů
Data specific for result type
Article name in the collection
Proceedings - Microscopy Conference 2005 - Dreiländertagung /6./
ISBN
1019-6447
ISSN
—
e-ISSN
—
Number of pages
1
Pages from-to
8
Publisher name
Paul Scherrer Institute
Place of publication
Villigen
Event location
Davos
Event date
Aug 28, 2005
Type of event by nationality
WRD - Celosvětová akce
UT code for WoS article
—