All

What are you looking for?

All
Projects
Results
Organizations

Quick search

  • Projects supported by TA ČR
  • Excellent projects
  • Projects with the highest public support
  • Current projects

Smart search

  • That is how I find a specific +word
  • That is how I leave the -word out of the results
  • “That is how I can find the whole phrase”

Cathode Lens Mode in the Scanning Electron Microscope

The result's identifiers

  • Result code in IS VaVaI

    <a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68081731%3A_____%2F06%3A00049017" target="_blank" >RIV/68081731:_____/06:00049017 - isvavai.cz</a>

  • Result on the web

  • DOI - Digital Object Identifier

Alternative languages

  • Result language

    angličtina

  • Original language name

    Cathode Lens Mode in the Scanning Electron Microscope

  • Original language description

    Electron optical characteristics of the cathode lens mode, enabling one to decelerate the electron beam bombarding the specimen in a scanning electron microscope down to arbitrarily low energies, are summarized. Contrast mechanisms appearing at very lowenergies below 100 eV are described, together with detection strategies capable of acquiring these contrasts. Illustration examples are provided.

  • Czech name

    Režim katodové čočky v rastrovacím elektronovém mikroskopu

  • Czech description

    Je shrnuty elektronově optické charakteristiky režimu katodové čočky, umožňujícího zbrzdit elektronový svazek bombardující preparát v rastrovacím elektronovém mikroskopu na libovolně nízkou energii. Jsou popsány kontrastní mechanismy projevující se při velmi nízkých energiích pod 100 eV společně s detekčními strategiemi schopnými tyto kontrasty zachytit. Jsou předloženy ilustrující příklady.

Classification

  • Type

    D - Article in proceedings

  • CEP classification

    JA - Electronics and optoelectronics

  • OECD FORD branch

Result continuities

  • Project

    <a href="/en/project/GA102%2F05%2F2327" target="_blank" >GA102/05/2327: Direct imaging of the dopant distribution in a semiconductor by means of low energy clectrons</a><br>

  • Continuities

    Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)

Others

  • Publication year

    2006

  • Confidentiality

    S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Data specific for result type

  • Article name in the collection

    Proceedings of the 10th International Seminar on Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation

  • ISBN

    80-239-6285-X

  • ISSN

  • e-ISSN

  • Number of pages

    4

  • Pages from-to

    49-52

  • Publisher name

    ISI AS CR

  • Place of publication

    Brno

  • Event location

    Skalský dvůr

  • Event date

    May 22, 2006

  • Type of event by nationality

    WRD - Celosvětová akce

  • UT code for WoS article