Detection of Signal Electrons in Scanning Electron Microscopy

Result code in IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68081731%3A_____%2F06%3A00049031" target="_blank" >RIV/68081731:_____/06:00049031 - isvavai.cz</a>
Result on the web
—
DOI - Digital Object Identifier
—

Result language
čeština
Original language name
Detekce signálních elektronů v rastrovací elektronové mikroskopii
Original language description
Přehledový článek shrnuje výsledky, které byly dosaženy v oblasti detekce signálních elektronů, zejména sekundárních a zpětně odražených elektronů, v rastrovacích elektronových mikroskopech střední i vyšší třídy a v mikroskopech s nízkou energií primárního elektronového svazku při jejich dopadu na vzorek. Podává charakteristiku obrazu tvořeného těmito elektrony a soustřeďuje se především na scintilačně-fotonásobičové systémy.
Czech name
Detekce signálních elektronů v rastrovací elektronové mikroskopii
Czech description
Přehledový článek shrnuje výsledky, které byly dosaženy v oblasti detekce signálních elektronů, zejména sekundárních a zpětně odražených elektronů, v rastrovacích elektronových mikroskopech střední i vyšší třídy a v mikroskopech s nízkou energií primárního elektronového svazku při jejich dopadu na vzorek. Podává charakteristiku obrazu tvořeného těmito elektrony a soustřeďuje se především na scintilačně-fotonásobičové systémy.

Type
J<sub>x</sub> - Unclassified - Peer-reviewed scientific article (Jimp, Jsc and Jost)
CEP classification
JA - Electronics and optoelectronics
OECD FORD branch
—

Project
<a href="/en/project/GA102%2F05%2F0886" target="_blank" >GA102/05/0886: Investigation of the true secondary electrons detection systems in the newly conceived environmental scanning electron microscope</a><br>
Continuities
Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)

Publication year
2006
Confidentiality
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Similar results(10)