Scanning electron microscope for surface study

Result code in IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68081731%3A_____%2F05%3A00022440" target="_blank" >RIV/68081731:_____/05:00022440 - isvavai.cz</a>
Result on the web
—
DOI - Digital Object Identifier
—

Result language
čeština
Original language name
Rastrovací elektronový mikroskop pro studium povrchů
Original language description
Byl postaven rastrovací elektronový mikroskop pro studium povrchů pomocí velmi pomalých elektronů a Augerových elektronů. Přístroj vznikl renovací zastaralého ultravakuového rastrovacího elektronového mikroskopu Tesla BS 350. Vakuový systém mikroskopu byl kompletně zrekonstruován, mikroskop byl připojen k počítačem řízené elektronice a zkonstruovány a uvedeny do provozu byly potřebné detektory pro veškeré obrazové signály.
Czech name
Rastrovací elektronový mikroskop pro studium povrchů
Czech description
Byl postaven rastrovací elektronový mikroskop pro studium povrchů pomocí velmi pomalých elektronů a Augerových elektronů. Přístroj vznikl renovací zastaralého ultravakuového rastrovacího elektronového mikroskopu Tesla BS 350. Vakuový systém mikroskopu byl kompletně zrekonstruován, mikroskop byl připojen k počítačem řízené elektronice a zkonstruovány a uvedeny do provozu byly potřebné detektory pro veškeré obrazové signály.

Type
J<sub>x</sub> - Unclassified - Peer-reviewed scientific article (Jimp, Jsc and Jost)
CEP classification
BM - Solid-state physics and magnetism
OECD FORD branch
—

Project
<a href="/en/project/KJB2065405" target="_blank" >KJB2065405: Examination of nanostructures by electron beam</a><br>
Continuities
P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)

Publication year
2005
Confidentiality
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Similar results(10)