All

What are you looking for?

All
Projects
Results
Organizations

Quick search

  • Projects supported by TA ČR
  • Excellent projects
  • Projects with the highest public support
  • Current projects

Smart search

  • That is how I find a specific +word
  • That is how I leave the -word out of the results
  • “That is how I can find the whole phrase”

Micrographs of secondary electrons in the scanning electron microscopes

The result's identifiers

  • Result code in IS VaVaI

    <a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68081731%3A_____%2F08%3A00308565" target="_blank" >RIV/68081731:_____/08:00308565 - isvavai.cz</a>

  • Result on the web

  • DOI - Digital Object Identifier

Alternative languages

  • Result language

    čeština

  • Original language name

    Obrazy ze sekundárních elektronů v rastrovacich elektronových mikroskopech

  • Original language description

    Článek se zabývá výpočty sběrové účinnosti Everhartova-Thornleyho detektorů v různých rastrovacích elektronových mikroskopech. Na třech detekčních systémech je ukázán vliv rozložení magnetického a elektrostatického pole v komoře mikroskopu na trajektoriesekundárních elektronů, které ovlivňují výsledný obrazový kontrast

  • Czech name

    Obrazy ze sekundárních elektronů v rastrovacich elektronových mikroskopech

  • Czech description

    Článek se zabývá výpočty sběrové účinnosti Everhartova-Thornleyho detektorů v různých rastrovacích elektronových mikroskopech. Na třech detekčních systémech je ukázán vliv rozložení magnetického a elektrostatického pole v komoře mikroskopu na trajektoriesekundárních elektronů, které ovlivňují výsledný obrazový kontrast

Classification

  • Type

    J<sub>x</sub> - Unclassified - Peer-reviewed scientific article (Jimp, Jsc and Jost)

  • CEP classification

    JA - Electronics and optoelectronics

  • OECD FORD branch

Result continuities

  • Project

    <a href="/en/project/GA102%2F05%2F2327" target="_blank" >GA102/05/2327: Direct imaging of the dopant distribution in a semiconductor by means of low energy clectrons</a><br>

  • Continuities

    Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)

Others

  • Publication year

    2008

  • Confidentiality

    S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Data specific for result type

  • Name of the periodical

    Jemná mechanika a optika

  • ISSN

    0447-6441

  • e-ISSN

  • Volume of the periodical

    53

  • Issue of the periodical within the volume

    2

  • Country of publishing house

    CZ - CZECH REPUBLIC

  • Number of pages

    3

  • Pages from-to

    57-59

  • UT code for WoS article

  • EID of the result in the Scopus database