Application document for an Field-emission microscope designed for the characterization of SPM probes
The result's identifiers
Result code in IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68081731%3A_____%2F24%3A00618989" target="_blank" >RIV/68081731:_____/24:00618989 - isvavai.cz</a>
Result on the web
—
DOI - Digital Object Identifier
—
Alternative languages
Result language
čeština
Original language name
Aplikační dokument pro autoemisní mikroskop určený pro charakterizaci SPM sond
Original language description
Knápek, A. Aplikační dokument pro autoemisní mikroskop určený pro charakterizaci SPM sond. 2024. Tento aplikační dokument představuje nové technické řešení v oblasti charakterizace vodivých sond pro rastrovací sondové mikroskopy (SPM), zejména AFM a STM. Navržený autoemisní mikroskop využívá měření autoemisního proudu v ultra-vakuovém prostředí s následnou vizualizací pomocí scintilačního detektoru (YAG:Ce). Systém umožňuje detailní analýzu charakteristik sond pomocí ortodoxního testování na základě Murphyho-Goodova grafu. Zařízení poskytuje nedestruktivní, objektivní a opakovatelné hodnocení kvality sond včetně možnosti testování stability a zrychleného stárnutí. Výsledkem je zlepšená kontrola kvality a optimalizace výkonu sond pro přesné mikroskopické zobrazování.
Czech name
Aplikační dokument pro autoemisní mikroskop určený pro charakterizaci SPM sond
Czech description
Knápek, A. Aplikační dokument pro autoemisní mikroskop určený pro charakterizaci SPM sond. 2024. Tento aplikační dokument představuje nové technické řešení v oblasti charakterizace vodivých sond pro rastrovací sondové mikroskopy (SPM), zejména AFM a STM. Navržený autoemisní mikroskop využívá měření autoemisního proudu v ultra-vakuovém prostředí s následnou vizualizací pomocí scintilačního detektoru (YAG:Ce). Systém umožňuje detailní analýzu charakteristik sond pomocí ortodoxního testování na základě Murphyho-Goodova grafu. Zařízení poskytuje nedestruktivní, objektivní a opakovatelné hodnocení kvality sond včetně možnosti testování stability a zrychleného stárnutí. Výsledkem je zlepšená kontrola kvality a optimalizace výkonu sond pro přesné mikroskopické zobrazování.
Classification
Type
O - Miscellaneous
CEP classification
—
OECD FORD branch
10302 - Condensed matter physics (including formerly solid state physics, supercond.)
Result continuities
Project
<a href="/en/project/FW03010504" target="_blank" >FW03010504: Development of in-situ techniques for characterization of materials and nanostructures</a><br>
Continuities
P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)
Others
Publication year
2024
Confidentiality
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů