Comparison of photocurrent spectra measured by FTPS and CPM for amorphous silicon layers and solar cells

Result code in IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68378271%3A_____%2F08%3A00319690" target="_blank" >RIV/68378271:_____/08:00319690 - isvavai.cz</a>

Alternative codes found

RIV/68378271:_____/08:00341939

Result on the web

—

DOI - Digital Object Identifier

—

Result language

angličtina

Original language name

Comparison of photocurrent spectra measured by FTPS and CPM for amorphous silicon layers and solar cells

Original language description

Fourier Transform Photocurrent Spectroscopy (FTPS) has been recently introduced as a fast and highly sensitive method for the evaluation of the optical absorption coefficient of photoconductive thin films such as microcrystalline silicon layers. This contribution represents the first study of FTPS utilization for amorphous silicon layers and cells. FTPS spectra are compared with results of Constant Photocurrent Method (CPM) and Dual Beam Photoconductivity (DBP) measured at different chopping frequencies. We will concentrate to highlight the appropriate measuring conditions and evaluation procedures for correct data interpretation. Moreover, we will present our novel approach for the interference free determination of absorption coefficients of thin films grown on transparent substrates, which is mainly important for very thin layers where broad interference fringes do not allow correct evaluation of parameters such as a slope of the Urbach tail and the defect density.

Czech name

Srovnání fotovodivostních spekter vrstev amorfního křemíku a solárních článků na nich založených měřených pomocí metod FTPS a CPM

Czech description

Fourierovská fotovodivostní spektroskopie (FTPS) byla zavedena v nedávné době jako rychlá a vysoce citlivá metoda pro určení optického absorpčního koeficientu fotovodivých tenkých vrstev, např. mikrokrystalických křemíkových vrstev. Tento článek představuje první studii použití FTPS na vrstvy amorfního křemíku a na články na nich založené. FTPS spektra jsou porovnána s výsledky metody konstantního fotoproudu (CPM) a metody dvoupaprskové fotovodivosti (DBP) měřenými za různých přerušovacích frekvencí. Zaměřujeme se především na vhodné měřící podmínky a vyhodnocovací proces pro správnou interpretaci dat. Dále představujeme nový přístup k vyhodnocení absorpčních koeficientů tenkých vrstev narostlých na průhledných podložkách, což je důležité především provelmi tenké vrstvy u nichž široké interferenční proužky znemožňují správné vyhodnocení parametrů jako je sklon Urbachovy hrany a koncentrace defektů.

Type

J_x - Unclassified - Peer-reviewed scientific article (Jimp, Jsc and Jost)

CEP classification

BM - Solid-state physics and magnetism

OECD FORD branch

—

Project

<a href="/en/project/SN%2F3%2F172%2F05" target="_blank" >SN/3/172/05: *Low-energy structure photovoltaic cells and PV systems elements</a><br>

Continuities

Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)

Publication year

2008

Confidentiality

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Name of the periodical

Journal of Non-Crystalline Solids

ISSN

0022-3093

e-ISSN

—

Volume of the periodical

354

Issue of the periodical within the volume

19-25

Country of publishing house

NL - THE KINGDOM OF THE NETHERLANDS

Number of pages

4

Pages from-to

—

UT code for WoS article

000256500400023

EID of the result in the Scopus database

—