All
All

What are you looking for?

All
Projects
Organizations

Quick search

  • Projects supported by TA ČR
  • Excellent projects
  • Projects with the highest public support
  • Current projects

Smart search

  • That is how I find a specific +word
  • That is how I leave the -word out of the results
  • “That is how I can find the whole phrase”

Advanced optical characterization of disordered semiconductors by Fourier transform photocurrent spectroscopy

Result description

The paper summarizes progress in the Fourier transform photocurrent spectroscopy (FTPS) since 2001 when it was introduced for the first time for evaluation of the spectral dependence of the optical absorption coefficient in microcrystalline silicon thinfilms. We concentrate on the appropriate measuring conditions and evaluation procedures for a correct data interpretation of various thin films and solar cell structures. We show how the measured and finally evaluated absorption spectra differ in case ofsingle junction amorphous and microcrystalline silicon solar cells as well as for a micromorph tandem. The key issue of the tandem structure diagnostics is a separation of FTPS signals from amorphous and microcrystalline parts of a stacked structure andtheir correct interpretation. For an appropriate simulation of the light propagation within the structure and confirmation of our measuring approach the computer model cell has been used.

Keywords

siliconsolar cellsphotovoltaicsband structureplasma depositiondefectsMonte Carlo simulationsabsorptionoptical spectroscopyFTIR

The result's identifiers

Alternative languages

  • Result language

    angličtina

  • Original language name

    Advanced optical characterization of disordered semiconductors by Fourier transform photocurrent spectroscopy

  • Original language description

    The paper summarizes progress in the Fourier transform photocurrent spectroscopy (FTPS) since 2001 when it was introduced for the first time for evaluation of the spectral dependence of the optical absorption coefficient in microcrystalline silicon thinfilms. We concentrate on the appropriate measuring conditions and evaluation procedures for a correct data interpretation of various thin films and solar cell structures. We show how the measured and finally evaluated absorption spectra differ in case ofsingle junction amorphous and microcrystalline silicon solar cells as well as for a micromorph tandem. The key issue of the tandem structure diagnostics is a separation of FTPS signals from amorphous and microcrystalline parts of a stacked structure andtheir correct interpretation. For an appropriate simulation of the light propagation within the structure and confirmation of our measuring approach the computer model cell has been used.

  • Czech name

    Pokročilá optická charakterizace neuspořádáných polovodičů pomocí Fourierovské fotovodivostní spektroskopie

  • Czech description

    Článek shrnuje vývoj Fourierovské fotovodivostní spektroskopie od roku 2001 kdy byla poprvé použita pro vyhodnocení spektrální závislosti optických absorpčních koeficientů mikrokrystalických křemíkových tenkých filmů. Zaměřujeme se na vhodné měřící podmínky a vyhodnocovací postupy pro správnou interpretaci dat různých tenkých vrstev a solárních článků. Ukazujeme jak se měřená a vyhodnocená absorpční spektra liší v případě amorfních a mikrokrystalických solárních článků a též v případně tandemového článku založeného na mikromorfním křemíku. Pro charakterizace tandemové struktury je klíčové oddělení a správná interpretace FTPS signálu z amorfní a mikrokrystalické části. Pro simulaci šíření světla uvnitř struktury a potvrzení našeho měřícího postupu byl použit počítačový model.

Classification

  • Type

    Jx - Unclassified - Peer-reviewed scientific article (Jimp, Jsc and Jost)

  • CEP classification

    BM - Solid-state physics and magnetism

  • OECD FORD branch

Result continuities

Others

  • Publication year

    2008

  • Confidentiality

    S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Data specific for result type

  • Name of the periodical

    Journal of Non-Crystalline Solids

  • ISSN

    0022-3093

  • e-ISSN

  • Volume of the periodical

    354

  • Issue of the periodical within the volume

    19-25

  • Country of publishing house

    NL - THE KINGDOM OF THE NETHERLANDS

  • Number of pages

    5

  • Pages from-to

  • UT code for WoS article

    000256500400078

  • EID of the result in the Scopus database

Result type

Jx - Unclassified - Peer-reviewed scientific article (Jimp, Jsc and Jost)

Jx

CEP

BM - Solid-state physics and magnetism

Year of implementation

2008