Effect of angle of incidence of light on reflectance of dielectric thin film using approximate relations

Result code in IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68407700%3A21110%2F24%3A00377741" target="_blank" >RIV/68407700:21110/24:00377741 - isvavai.cz</a>
Result on the web
<a href="https://jmo.fzu.cz/" target="_blank" >https://jmo.fzu.cz/</a>
DOI - Digital Object Identifier
—

Result language
čeština
Original language name
Vliv úhlu dopadu světla na odrazivost dielektrické tenké vrstvy s použitím přibližných vztahů
Original language description
V článku jsou odvozeny přibližné vztahy, které umožňují vyjádřit závislost charakteristické matice tenké homogenní izotropní dielektrické vrstvy na úhlu lomu světla ve vrstvě pomocí polynomiální aproximace. Je ukázán výpočet odrazivosti s pomocí odvozených přibližných vztahů a výsledky jsou porovnány s přesným výpočtem na příkladu dvojnásobné antireflexní vrstvy, pro níž platí, že aproximativní vztahy jsou dostatečně přesné pro úhly dopadu světla menší než 40°
Czech name
Vliv úhlu dopadu světla na odrazivost dielektrické tenké vrstvy s použitím přibližných vztahů
Czech description
V článku jsou odvozeny přibližné vztahy, které umožňují vyjádřit závislost charakteristické matice tenké homogenní izotropní dielektrické vrstvy na úhlu lomu světla ve vrstvě pomocí polynomiální aproximace. Je ukázán výpočet odrazivosti s pomocí odvozených přibližných vztahů a výsledky jsou porovnány s přesným výpočtem na příkladu dvojnásobné antireflexní vrstvy, pro níž platí, že aproximativní vztahy jsou dostatečně přesné pro úhly dopadu světla menší než 40°

Publication year
2024
Confidentiality
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Similar results(10)