Built-In Self-Test Methods Implemented in FPGA and in ASIC

Result code in IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68407700%3A21230%2F05%3A03109382" target="_blank" >RIV/68407700:21230/05:03109382 - isvavai.cz</a>

Result on the web

—

DOI - Digital Object Identifier

—

Result language

angličtina

Original language name

Built-In Self-Test Methods Implemented in FPGA and in ASIC

Original language description

Built-In Self-Test (BIST) methods implemented in FPGA and ASIC. BIST methods are a pseudo-random testing and a pseudo-random testing with a reseeding. LFSR to generate test patterns. Serial and parallel processing of test patterns by a circuit under test.

Czech name

Metody vestavěných diagnostických prostředků implementované v FPGA a v ASIC

Czech description

Metody vestavěných diagnostických prostředků implementované v FPGA a v ASIC. Zkoumanými BIST metodami jsou pseudo-náhodné testování a pseudo-náhodné testování s reseedingem. Generátorem testovacích vzorků je lineární zpětnovazební posuvný registr. Sériové a paralelní zpracování testovacích vzorků testovanou jednotkou.

Type

A - Audiovisual production

CEP classification

JC - Computer hardware and software

OECD FORD branch

—

Project

—

Continuities

Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)

Publication year

2005

Confidentiality

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

ISBN

—

Place of publication

Praha

Publisher/client name

—

Version

—

Carrier ID

neuvedeno