Assembly Influence on the Small-Signal Parameters of a Packaged Transistor
The result's identifiers
Result code in IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68407700%3A21230%2F05%3A03112237" target="_blank" >RIV/68407700:21230/05:03112237 - isvavai.cz</a>
Result on the web
—
DOI - Digital Object Identifier
—
Alternative languages
Result language
angličtina
Original language name
Assembly Influence on the Small-Signal Parameters of a Packaged Transistor
Original language description
A detailed analysis of the assembly influence on the small-signal parameters of a packaged transistor is presented. A new method, based on 3D field simulation and mixed-mode scattering parameters approach is proposed. Differences in scattering parameterscaused by assembly change are computed using the new proposed method and compared to the standard method based on admittance matrix. The differences, accuracy, error sources and suitability of both methods are discussed. Results are verified experimentally in microstrip line for two fundamental assembly change of a transistor in SOT 343 package in frequency range 45 MHz - 18 GHz.
Czech name
Vliv montáže na malosignálové parametry pouzdřeného tranzistoru
Czech description
V článku je presentována detailní analýza vlivu montáže na malosignálové parametry pouzdřeného tranzistoru. Rozdíly S-parametrů způsobené změnou motáže jsou získávány novou originální metodou z 3D simulace elektromagnetického pole a jsou verifikovány experimentálně v kmitočtovém pásmu 45 MHz - 18 GHz. Na závěr je uvedena diskuse přesnosti modelování, zdrojů chyb a porovnání nové metody analýzy se standardní.
Classification
Type
J<sub>x</sub> - Unclassified - Peer-reviewed scientific article (Jimp, Jsc and Jost)
CEP classification
JA - Electronics and optoelectronics
OECD FORD branch
—
Result continuities
Project
—
Continuities
Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)
Others
Publication year
2005
Confidentiality
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů
Data specific for result type
Name of the periodical
Radioengineering
ISSN
1210-2512
e-ISSN
—
Volume of the periodical
14
Issue of the periodical within the volume
4
Country of publishing house
CZ - CZECH REPUBLIC
Number of pages
6
Pages from-to
75-80
UT code for WoS article
—
EID of the result in the Scopus database
—