A Virtual A/D Converter Testbench for Educational Purpose - Development and Results
The result's identifiers
Result code in IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68407700%3A21230%2F08%3A03145786" target="_blank" >RIV/68407700:21230/08:03145786 - isvavai.cz</a>
Result on the web
—
DOI - Digital Object Identifier
—
Alternative languages
Result language
angličtina
Original language name
A Virtual A/D Converter Testbench for Educational Purpose - Development and Results
Original language description
This paper deals with a new concept of virtual testing engine for analogue-to-digital converters (ADCs). The whole system consists of program procedures to extract the most important ADC errors expressed in terms of integral and differential non-linearity (INL and DNL). The developed testbench is especially suitable for educational purpose because of modular conception of the system. The proposed testing engine is implemented in Maple, bringing an ideal possibility to make a complex system for the simulations of ADC at the virtual level as well as at the circuit level.
Czech name
Virtuální testovací rozhraní pro A/D převodníky pro výukové účely - vývoj a výsledky
Czech description
Příspěvek se zabývá novým konceptem virtuálního testovacího rozhraní vhodného pro A/D převodníky. Systém sestává z programových procedur k extrakci nejvýznamnějších chyb ADC, vyjádřených integrální a diferenciální nelinearitou (INL a DNL). Vyvinuté testovací rozhraní je zejména vhodné pro výukové účely vzhledem k modulární koncepci systému. Testovací modul je implementován v Maple, přinášejícím ideální možnost k vytvoření komplexního systému pro simulaci ADC na virtuální, stejně tak jako obvodové úrovni.
Classification
Type
J<sub>x</sub> - Unclassified - Peer-reviewed scientific article (Jimp, Jsc and Jost)
CEP classification
JA - Electronics and optoelectronics
OECD FORD branch
—
Result continuities
Project
<a href="/en/project/GA102%2F07%2F1186" target="_blank" >GA102/07/1186: Sophisticated methods of the analog and mixed-signal circuits design in sub-micron technologies</a><br>
Continuities
Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)<br>S - Specificky vyzkum na vysokych skolach
Others
Publication year
2008
Confidentiality
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů
Data specific for result type
Name of the periodical
Measurement Science Review
ISSN
1335-8871
e-ISSN
—
Volume of the periodical
8
Issue of the periodical within the volume
4
Country of publishing house
SK - SLOVAKIA
Number of pages
4
Pages from-to
—
UT code for WoS article
000262174000001
EID of the result in the Scopus database
—