Theoretical Predictions of Yields of Complex DNA Damages Caused by Ionizing Radiation
The result's identifiers
Result code in IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68407700%3A21340%2F06%3A04123283" target="_blank" >RIV/68407700:21340/06:04123283 - isvavai.cz</a>
Result on the web
—
DOI - Digital Object Identifier
—
Alternative languages
Result language
čeština
Original language name
Teoretické predikce četností komplexních poškození DNA vyvolaných ionizujícím zářením
Original language description
Četnost a prostorové rozložení poškození buněčné DNA ionizujícím zářením jsou přímo svázány s kvalitou působícího záření. S rostoucím LET poškození častěji vznikají blízko u sebe a tvoří shluky – komplexní poškození. Experimentální studie umožňujípopsat, jak přítomnost určité kombinace lézí v komplexním poškození ovlivňuje reparační procesy. Teoretické výpočty četností takových poškození pak umožňují odhadnout pravděpodobnost vzniku takového poškození v důsledku průchodu ionizujícího záření s určitými charakteristikami buňkou. V rámci práce je představen teoretický model pro predikce četností různých typů komplexních poškození DNA ionizujícím záření a s pomocí modelu stanovené relativní četnosti různých typů komplexních poškození pro nabité částice s LET v intervalu 0,4-160 keV/m. Diskutována je též závislost vychytatelných a nevychytatených poškození na LET.
Czech name
Teoretické predikce četností komplexních poškození DNA vyvolaných ionizujícím zářením
Czech description
Četnost a prostorové rozložení poškození buněčné DNA ionizujícím zářením jsou přímo svázány s kvalitou působícího záření. S rostoucím LET poškození častěji vznikají blízko u sebe a tvoří shluky – komplexní poškození. Experimentální studie umožňujípopsat, jak přítomnost určité kombinace lézí v komplexním poškození ovlivňuje reparační procesy. Teoretické výpočty četností takových poškození pak umožňují odhadnout pravděpodobnost vzniku takového poškození v důsledku průchodu ionizujícího záření s určitými charakteristikami buňkou. V rámci práce je představen teoretický model pro predikce četností různých typů komplexních poškození DNA ionizujícím záření a s pomocí modelu stanovené relativní četnosti různých typů komplexních poškození pro nabité částice s LET v intervalu 0,4-160 keV/m. Diskutována je též závislost vychytatelných a nevychytatených poškození na LET.
Classification
Type
D - Article in proceedings
CEP classification
BG - Nuclear, atomic and molecular physics, accelerators
OECD FORD branch
—
Result continuities
Project
<a href="/en/project/GD202%2F05%2FH031" target="_blank" >GD202/05/H031: Application of ionizing radiation in dosimetry and radiological physics</a><br>
Continuities
P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)
Others
Publication year
2006
Confidentiality
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů
Data specific for result type
Article name in the collection
Sborník rozšířených abstraktů XXVIII DRO
ISBN
80-01-03575-1
ISSN
—
e-ISSN
—
Number of pages
2
Pages from-to
310-311
Publisher name
Ediční středisko ČVUT
Place of publication
Praha
Event location
Luhačovice
Event date
Nov 20, 2006
Type of event by nationality
EUR - Evropská akce
UT code for WoS article
—