Layers of Metal Nanoparticles on Semicoductors Deposited by Electrophoresis from Solutions with Reverse Micelles
The result's identifiers
Result code in IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68407700%3A21340%2F07%3A04137453" target="_blank" >RIV/68407700:21340/07:04137453 - isvavai.cz</a>
Result on the web
—
DOI - Digital Object Identifier
—
Alternative languages
Result language
angličtina
Original language name
Layers of Metal Nanoparticles on Semicoductors Deposited by Electrophoresis from Solutions with Reverse Micelles
Original language description
Pd nanoparticles were prepared with reverse micelles of water/AOT/isooctane solution and deposited onto silicon or InP substrates by electrophoresis. The deposited Pd nanoparticles were investigated by optical microscopy, SIMS and SEM. Finally, Schottkydiodes with barrier height as high as 1.07 eV were prepared by deposition of Pd nanoparticles on n-type InP and by a partial removal of superfluous AOT. These diodes are prospective structures for further testing as hydrogen sensors.
Czech name
Vrstvy kovových nanočástic na polovodičích deponovaných elektroforezou z roztoku s reverzními micellemi
Czech description
Nanočástice Pd byly připraveny s reversními micellemi v roztoku voda/AOT/isooktan a elektroforeticky deponovány na podložky křemíku nebo InP. Deponované Pd nanočástice byly zkoumány optickou mikroskopií, SIMS a SEM. Konečně deponováním Pd nanočástic na InP typu n a po částečném odstranění nadbytečného AOT byly připraveny Schottkyho diody s výškou bariéry až 1.07 eV. Tyto diody představují perspektivní struktury pro další testování jako vodíkové senzory
Classification
Type
J<sub>x</sub> - Unclassified - Peer-reviewed scientific article (Jimp, Jsc and Jost)
CEP classification
JA - Electronics and optoelectronics
OECD FORD branch
—
Result continuities
Project
<a href="/en/project/KAN400670651" target="_blank" >KAN400670651: Study of interfaces between metal nanoparticles and InP for gas sensing and radiations detection</a><br>
Continuities
S - Specificky vyzkum na vysokych skolach
Others
Publication year
2007
Confidentiality
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů
Data specific for result type
Name of the periodical
Nanoscale Research Letters
ISSN
1931-7573
e-ISSN
—
Volume of the periodical
2
Issue of the periodical within the volume
9
Country of publishing house
US - UNITED STATES
Number of pages
5
Pages from-to
450-454
UT code for WoS article
—
EID of the result in the Scopus database
—