Universal SEM as a multi-nano-analytic tool - UnivSEM
Cíle projektu
1. Removing technical barriers to reach physical limits ? UniSEM chamber design 2. Dual electron and ion beam instrument improvements: advanced SEM immersion optics and plasma FIB 3. Development of improved TOF-SIMS sensitivity and lateral resolution 4.Improved secondary ion yields by controlling surface chemistry 5. Integration of probe methods in to the charged particles analytical system 6. Integration of optical methods in to the charged particles analytical system 7. Full integration of all techniques to the unique UniSEM prototype, software development and demonstration of novel capabilities 8. 3D analysis in a tomography approach using combined analytical techniques
Klíčová slova
scanning electron microscopyfocused ion beamelemental and molecular analysis in nanometresscanning probesSPMconfocal Raman microscopychemical imaging3D tomographyTOF-SIMS
Veřejná podpora
Poskytovatel
Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy
Program
Podpora projektů sedmého rámcového programu Evropského společenství pro výzkum, technologický rozvoj a demonstrace (2007 až 2013) podle zákona č. 171/2007 Sb.
Veřejná soutěž
FP7-NMP-2011-SME-5
Hlavní účastníci
Vysoké učení technické v Brně / Středoevropský technologický institut
Druh soutěže
RP - Spolufinancování programu EK
Číslo smlouvy
MSMT-34668/2012-32
Alternativní jazyk
Název projektu anglicky
Universal SEM as a multi-nano-analytic tool - UnivSEM
Anotace anglicky
1. Removing technical barriers to reach physical limits ? UniSEM chamber design 2. Dual electron and ion beam instrument improvements: advanced SEM immersion optics and plasma FIB 3. Development of improved TOF-SIMS sensitivity and lateral resolution 4.Improved secondary ion yields by controlling surface chemistry 5. Integration of probe methods in to the charged particles analytical system 6. Integration of optical methods in to the charged particles analytical system 7. Full integration of all techniques to the unique UniSEM prototype, software development and demonstration of novel capabilities 8. 3D analysis in a tomography approach using combined analytical techniques
Vědní obory
Kategorie VaV
AP - Aplikovaný výzkum
CEP - hlavní obor
BH - Optika, masery a lasery
CEP - vedlejší obor
BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
CEP - další vedlejší obor
—
OECD FORD - odpovídající obory
(dle převodníku)10302 - Condensed matter physics (including formerly solid state physics, supercond.)
10306 - Optics (including laser optics and quantum optics)
Hodnocení dokončeného projektu
Hodnocení poskytovatelem
U - Uspěl podle zadání (s publikovanými či patentovanými výsledky atd.)
Zhodnocení výsledků projektu
Hodnocení výsledků řešení ministerstvo neprovádí, neboť podmínkou podpory je, že uchazeč byl vybrán mezinárodním poskytovatelem v souladu s pravidly příslušného programu. Projekt je hodnocen až po jeho schválení mezinárodním poskytovatelem.
Termíny řešení
Zahájení řešení
1. 4. 2012
Ukončení řešení
31. 3. 2015
Poslední stav řešení
U - Ukončený projekt
Poslední uvolnění podpory
4. 3. 2015
Dodání dat do CEP
Důvěrnost údajů
C - Předmět řešení projektu podléhá obchodnímu tajemství (§ 504 Občanského zákoníku), ale název projektu, cíle projektu a u ukončeného nebo zastaveného projektu zhodnocení výsledku řešení projektu (údaje P03, P04, P15, P19, P29, PN8) dodané do CEP, jsou upraveny tak, aby byly zveřejnitelné.
Systémové označení dodávky dat
CEP16-MSM-7E-U/01:1
Datum dodání záznamu
6. 10. 2017
Finance
Celkové uznané náklady
1 900 tis. Kč
Výše podpory ze státního rozpočtu
1 900 tis. Kč
Ostatní veřejné zdroje financování
0 tis. Kč
Neveřejné tuz. a zahr. zdroje finan.
0 tis. Kč
Základní informace
Uznané náklady
1 900 tis. Kč
Statní podpora
1 900 tis. Kč
100%
Poskytovatel
Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy
CEP
BH - Optika, masery a lasery
Doba řešení
01. 04. 2012 - 31. 03. 2015