In-situ mikroskopie jako nástroj vývoje nových materiálů, výkonnějších systémů pro ukládání energie a polovodičových zařízení

Název projektu anglicky
In-situ microscopy tool for better materials, energy storage and semiconductor devices
Anotace anglicky
The main goal of this project is to develop and commercialize the next-generation of AFM in SEM technology, significantly increasing its capability for in-situ complex characterization of novel materials, energy storage, and semiconductor devices.

Kategorie VaV
AP - Aplikovaný výzkum
OECD FORD - hlavní obor
20302 - Applied mechanics
OECD FORD - vedlejší obor
10302 - Condensed matter physics (including formerly solid state physics, supercond.)
OECD FORD - další vedlejší obor
21002 - Nano-processes (applications on nano-scale); (biomaterials to be 2.9)
CEP - odpovídající obory <br>(dle <a href="http://www.vyzkum.cz/storage/att/E6EF7938F0E854BAE520AC119FB22E8D/Prevodnik_oboru_Frascati.pdf">převodníku</a>)
BM - Fyzika pevných látek a magnetismus<br>GB - Zemědělské stroje a stavby<br>JJ - Ostatní materiály<br>JQ - Strojní zařízení a nástroje

Důvěrnost údajů
C - Předmět řešení projektu podléhá obchodnímu tajemství (§ 504 Občanského zákoníku), ale název projektu, cíle projektu a u ukončeného nebo zastaveného projektu zhodnocení výsledku řešení projektu (údaje P03, P04, P15, P19, P29, PN8) dodané do CEP, jsou upraveny tak, aby byly zveřejnitelné.
Systémové označení dodávky dat
CEP25-TA0-FW-R
Datum dodání záznamu
20. 2. 2025

Podobné projekty(10)