Lokální optická a elektrická charakterizace optoelektronických struktur s nanometrickým rozlišením

Poskytovatel

Grantová agentura České republiky

Program

Standardní projekty

Veřejná soutěž

Standardní projekty 11 (SGA02008GA-ST)

Hlavní účastníci

—

Druh soutěže

VS - Veřejná soutěž

Číslo smlouvy

102/08/1474

Název projektu anglicky

Local optical and electronic characterisation of optoelectronic structures with nanometric resolution

Anotace anglicky

The project is focused on the local nanometer size optical and electron characterization of optoelectronic structures, including electroluminescent structures. Because the knowledge about the nanoscopic properties of these structures is not yet well known, we will use a method of Scanning near-field optical microsopy (SNOM) developed in the laboratory. The main objective is to understand and improve the overall efficiency and reliability of structures, which are both degraded by absorption, internalreflection and other losses. The main effort will be oriented toward study of ageing effects, which are mostly due to field and local heating enhanced diffusion of doped ions and host material vacancies. The principal mechanisms of local electromagnetic fields in the vicinity of  devices, and luminescence excitation will be analyzed. Optical and electron features will be measured by noise spectroscopy, local photo- and electroluminescence and near-field techniques, as well as a correlation of results in

Kategorie VaV

ZV - Základní výzkum

CEP - hlavní obor

JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika

CEP - vedlejší obor

BH - Optika, masery a lasery

CEP - další vedlejší obor

JB - Senzory, čidla, měření a regulace

OECD FORD - odpovídající obory <br>(dle <a href="http://www.vyzkum.cz/storage/att/E6EF7938F0E854BAE520AC119FB22E8D/Prevodnik_oboru_Frascati.pdf">převodníku</a>)

10306 - Optics (including laser optics and quantum optics)<br>20201 - Electrical and electronic engineering

Hodnocení poskytovatelem

U - Uspěl podle zadání (s publikovanými či patentovanými výsledky atd.)

Zhodnocení výsledků projektu

Projekt byl zaměřen na využití a propracování relativně nové metody rastrovací mikroskopie v&nbsp;optickém blízkém poli&nbsp;&nbsp;pro lokální charakterizaci optických a elektronických vlastností fotonických součástek, včetně anorganických i organických?

Zahájení řešení

1. 1. 2008

Ukončení řešení

31. 12. 2010

Poslední stav řešení

U - Ukončený projekt

Poslední uvolnění podpory

16. 4. 2010

Důvěrnost údajů

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Systémové označení dodávky dat

CEP11-GA0-GA-U/03:3

Datum dodání záznamu

9. 2. 2015

Celkové uznané náklady

1 331 tis. Kč

Výše podpory ze státního rozpočtu

1 331 tis. Kč

Ostatní veřejné zdroje financování

0 tis. Kč

Neveřejné tuz. a zahr. zdroje finan.

0 tis. Kč