Vše

Co hledáte?

Vše
Projekty
Výsledky výzkumu
Subjekty

Rychlé hledání

  • Projekty podpořené TA ČR
  • Významné projekty
  • Projekty s nejvyšší státní podporou
  • Aktuálně běžící projekty

Chytré vyhledávání

  • Takto najdu konkrétní +slovo
  • Takto z výsledků -slovo zcela vynechám
  • “Takto můžu najít celou frázi”

Stochastické jevy v polovodičových strukturách MIS a MIM

Veřejná podpora

  • Poskytovatel

    Grantová agentura České republiky

  • Program

    Standardní projekty

  • Veřejná soutěž

    Standardní projekty 12 (SGA02009GA-ST)

  • Hlavní účastníci

  • Druh soutěže

    VS - Veřejná soutěž

  • Číslo smlouvy

    102/09/1920

Alternativní jazyk

  • Název projektu anglicky

    Stochastic Phenomena in MIS and MIM Semiconductor Structures

  • Anotace anglicky

    The aim of this project is to clarify relation among electronic noise, charge carrier relaxation time, and localized state energy levels in CdTe nuclear radiation sensors, gate insulating layers of MOSFETs and tantalum and niobium capacitors. Long relaxation time constant is observed in above mentioned amorphous and crystalline materials which can not be satisfactorily explained on the basis of Shockley-Read model. In our opinion, the existence of shallow and deep localized states is responsible for these long relaxation constants due to which the carrier exchange is realized among three reservoirs at least. The kinetics of charge carriers in thermodynamic non-equilibrium state will be described on the basis of the Kolmogorow differential equation.  The absolute probabilities of reservoir occupation and carrier relaxation constants will be determined. In a strong electric field the transport of ions in amorphous structures is possible. To make this effect clear it will be investigated even in crystalline CdTe samples. The transition from amorphous to crystalline structure is possible in amorphous Ta2O5 and Nb2O5 layers in a strong electric field and under elevated temperatures. This effect will be analyzed in details because it causes capacitor parameter degradation and influences considerably the reliability of these electronic components.

Vědní obory

  • Kategorie VaV

    ZV - Základní výzkum

  • CEP - hlavní obor

    BM - Fyzika pevných látek a magnetismus

  • CEP - vedlejší obor

    JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika

  • CEP - další vedlejší obor

    JB - Senzory, čidla, měření a regulace

  • OECD FORD - odpovídající obory <br>(dle <a href="http://www.vyzkum.cz/storage/att/E6EF7938F0E854BAE520AC119FB22E8D/Prevodnik_oboru_Frascati.pdf">převodníku</a>)

    10302 - Condensed matter physics (including formerly solid state physics, supercond.)<br>20201 - Electrical and electronic engineering

Hodnocení dokončeného projektu

  • Hodnocení poskytovatelem

    V - Vynikající výsledky projektu (s mezinárodním významem atd.)

  • Zhodnocení výsledků projektu

    Řešení projektu proběhlo výtečně, jak z hlediska odborného tak i z hlediska čerpání finančních prostředků.

Termíny řešení

  • Zahájení řešení

    1. 1. 2009

  • Ukončení řešení

    31. 12. 2011

  • Poslední stav řešení

    U - Ukončený projekt

  • Poslední uvolnění podpory

    16. 4. 2011

Dodání dat do CEP

  • Důvěrnost údajů

    S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

  • Systémové označení dodávky dat

    CEP12-GA0-GA-U/02:2

  • Datum dodání záznamu

    2. 5. 2016

Finance

  • Celkové uznané náklady

    2 398 tis. Kč

  • Výše podpory ze státního rozpočtu

    2 398 tis. Kč

  • Ostatní veřejné zdroje financování

    0 tis. Kč

  • Neveřejné tuz. a zahr. zdroje finan.

    0 tis. Kč