Vše
Vše

Co hledáte?

Vše
Výsledky výzkumu
Subjekty

Rychlé hledání

  • Projekty podpořené TA ČR
  • Významné projekty
  • Projekty s nejvyšší státní podporou
  • Aktuálně běžící projekty

Chytré vyhledávání

  • Takto najdu konkrétní +slovo
  • Takto z výsledků -slovo zcela vynechám
  • “Takto můžu najít celou frázi”

On-chip tomografie transparentních materiálů se supervysokým rozlišením

Cíle projektu

Projekt je zaměřen na základní výzkum optických metod pro trojrozměrné zobrazování mikroskopických struktur v transparentních materiálech. Příkladem takových struktur jsou doménové struktury ve feroeletrických materiálech, deformační pole v okolí topologických defektů ve fotoelastických materiálech, fázová rozhraní v materiálech s fázovou změnou, apod. Vyvíjené metody budou založeny na on-chip tomografii se super-vysokým rozlišením, proto umožní trojrozměrné zobrazování v řádu stovek nanometrů v celém objemu zkoumaného materiálu. Optické metody se super-vysokým rozlišením realizované pomocí on-chip technologie představují nové nástroje použitelné ve fyzice feroelektrik, fotoelastické analýze a dalších oborech materiálového výzkumu.

Klíčová slova

ferroelectric materialsdomain patternson-chip tomographyon-chip microscopysuper-resolution

Veřejná podpora

  • Poskytovatel

    Grantová agentura České republiky

  • Program

    Standardní projekty

  • Veřejná soutěž

    Standardní projekty 23 (SGA0201900001)

  • Hlavní účastníci

    Ústav fyziky plazmatu AV ČR, v. v. i.

  • Druh soutěže

    VS - Veřejná soutěž

  • Číslo smlouvy

    19-22000S

Alternativní jazyk

  • Název projektu anglicky

    Super-resolution on-chip tomography of transparent materials

  • Anotace anglicky

    The project is focused on the basic research of optical methods for three-dimensional imaging of microscopic structures in transparent materials. Examples of such structures are domains in ferroelectric materials, strain fields in the vicinity of topological defects in photoelastic materials, phase interfaces in solid-solid phase change materials, etc. Developed methods will be based on the super-resolution on-chip tomography, thus allowing three-dimensional imaging on the scale of hundreds of nanometers in the entire volume of the material under investigation. The super-resolution optical methods implemented with the on-chip technology represent new tools applicable in ferroelectric physics, photoelastic analysis, and other fields of material research.

Vědní obory

  • Kategorie VaV

    ZV - Základní výzkum

  • OECD FORD - hlavní obor

    10306 - Optics (including laser optics and quantum optics)

  • OECD FORD - vedlejší obor

  • OECD FORD - další vedlejší obor

  • CEP - odpovídající obory
    (dle převodníku)

    BH - Optika, masery a lasery

Termíny řešení

  • Zahájení řešení

    1. 1. 2019

  • Ukončení řešení

    31. 12. 2023

  • Poslední stav řešení

  • Poslední uvolnění podpory

    30. 4. 2021

Dodání dat do CEP

  • Důvěrnost údajů

    S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

  • Systémové označení dodávky dat

    CEP22-GA0-GA-R

  • Datum dodání záznamu

    22. 2. 2022

Finance

  • Celkové uznané náklady

    5 977 tis. Kč

  • Výše podpory ze státního rozpočtu

    5 212 tis. Kč

  • Ostatní veřejné zdroje financování

    765 tis. Kč

  • Neveřejné tuz. a zahr. zdroje finan.

    0 tis. Kč

Základní informace

Uznané náklady

5 977 tis. Kč

Statní podpora

5 212 tis. Kč

87%


Poskytovatel

Grantová agentura České republiky

OECD FORD

Optics (including laser optics and quantum optics)

Doba řešení

01. 01. 2019 - 31. 12. 2023